[發明專利]一種頻率偏差與相位偏差的聯合測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201110316111.X
• 申請日: 2011-10-18
• 公開（公告）號: CN102387098A
• 公開（公告）日: 2012-03-21
• 發明（設計）人: 張力;張途
• 申請（專利權）人: 上海創遠儀器技術股份有限公司
• 主分類號: H04L25/02
• 分類號: H04L25/02;H04L25/03
• 代理公司: 北京鑫媛睿博知識產權代理有限公司 11297
• 代理人: 龔家驊

1.一種頻率偏差與相位偏差的聯合測量方法，其特征在于，該方法包括：

測試設備對被測移動終端的發射信號進行高倍采樣，并對每一路單倍采樣點執行以下處理：

計算當前采樣點中I、Q采樣信號調制后的實測相位曲線根據所述實測相位曲線和預置相位表生成對應的參考相位曲線φ_refi；

根據所述實測相位曲線和對應的參考相位曲線，得到當前采樣點的總的相位偏差φ_ei＝φ_i-φ_refi；

利用各采樣點的相位偏差組成的列向量[φ_e1，φ_e2，...，φ_eN]^T構造一元擬合矩陣方程y_N×1＝V_N×2×P_2×1，并通過簡化的QR分解求構造矩陣方程的最小二乘解，得到擬合因子向量P_2×1；其中，y_N×1＝[φ_e1，φ_e2，...，φ_eN]^T，V=1121......N1N×2,]]>P=P1P22×1;]]>

根據擬合因子向量P_2×1得到當前采樣點的頻率偏差與相位偏差；

其中，i表示采樣點的序列號，N為采樣點單倍數據的長度。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過簡化的QR分解求構造矩陣方程的最小二乘解，得到擬合因子向量P_2×1，具體為：

在求解構造矩陣方程的最小二乘解中，求解Q矩陣的前2個列向量構成的矩陣Q_N×2和R矩陣的前2個行向量構成的矩陣R_2×2；

根據公式P_2×1＝inv(R_2×2)×(Q_N×2)^H×y_N×1確定擬合因子向量P_2×1，其中，inv(·)表示求逆矩陣，(·)^H表示矩陣共軛轉置。