[發(fā)明專(zhuān)利]多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110314085.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-10-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102507148A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 富榮國(guó);常本康;錢(qián)蕓生;邱亞峰;張俊舉;劉磊;詹啟海;高頻;孫斌;???/a> | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 南京理工大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01M11/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01M11/02 |
| 代理公司: | 南京理工大學(xué)專(zhuān)利中心 32203 | 代理人: | 朱顯國(guó) |
| 地址: | 210094 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 象限 光電 探測(cè)器 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:包括暗箱[1]、測(cè)試鏡頭[2]、旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]、四維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[4]、三維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[5]、角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]、激光發(fā)射系統(tǒng)[7]、擴(kuò)束光學(xué)系統(tǒng)[8]、45o半反射半透鏡[9]、待測(cè)探測(cè)器[10]、專(zhuān)用夾具[11]、旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]、導(dǎo)電滑環(huán)[13]、直流電機(jī)[14]、監(jiān)視系統(tǒng)[15]、圓弧導(dǎo)軌[16]、底板[17]、數(shù)據(jù)采集卡[18]、計(jì)算機(jī)[19]、CCD攝像頭[20]、視頻處理系統(tǒng)[21]、液晶顯示器[22]、1.06um激光器[23]、波長(zhǎng)穩(wěn)定系統(tǒng)[24]、功率穩(wěn)定系統(tǒng)[25]和尾部滑塊[26];暗箱[1]位于四維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[4]的上方,四維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[4]固定在底板[17]的左端;旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]位于角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]上方,角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]固定在圓弧導(dǎo)軌[16]上,圓弧導(dǎo)軌[16]固定在底板[17]的右端;測(cè)試鏡頭[2]通過(guò)支架固定于三維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[5]上,三維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[5]安裝在底板[17]的中部,位于暗箱[1]與旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]之間;激光發(fā)射系統(tǒng)[7]、擴(kuò)束光學(xué)系統(tǒng)[8]、45o半反射半透鏡[9]和監(jiān)視系統(tǒng)[15]安裝在暗箱[1]中,從左往右依次為激光發(fā)射系統(tǒng)[7]、擴(kuò)束光學(xué)系統(tǒng)[8]、45o半反射半透鏡[9],監(jiān)視系統(tǒng)[15]位于45o半反射半透鏡[9]的左方;旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]、導(dǎo)電滑環(huán)[13]和直流電機(jī)[14]處于旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]中;導(dǎo)電滑環(huán)[13]套在旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]上;直流電機(jī)[14]與旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]的尾部相連,并通過(guò)螺釘固定在旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]中的支架上;旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]通過(guò)軸承支撐在旋轉(zhuǎn)測(cè)試箱[3]中的支架上;激光發(fā)射系統(tǒng)[7]發(fā)射出激光束經(jīng)擴(kuò)束光學(xué)系統(tǒng)[8]、45o半反射半透鏡[9]和測(cè)試鏡頭[2]照射在待測(cè)探測(cè)器[10]的探側(cè)面上,待測(cè)探測(cè)器[10]隨著旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]由直流電機(jī)[14]帶動(dòng)一起旋轉(zhuǎn),待測(cè)探測(cè)器[10]所響應(yīng)的信號(hào)經(jīng)導(dǎo)電滑環(huán)[13]和數(shù)據(jù)采集卡[18]輸入計(jì)算機(jī)[19];在測(cè)試的同時(shí),照射待測(cè)探測(cè)器[10]上的激光束,經(jīng)過(guò)45o半反射半透鏡[9]到達(dá)監(jiān)視系統(tǒng)[15]的入口,監(jiān)視系統(tǒng)[15]中的CCD攝像頭[20]將采集來(lái)的待測(cè)探測(cè)器[10]的表面情況送入視頻處理系統(tǒng)[21],經(jīng)過(guò)視頻處理系統(tǒng)[21]的處理與疊加產(chǎn)生可移動(dòng)的十字分化線(xiàn),最后由監(jiān)視系統(tǒng)[15]中的液晶顯示器[22]顯示最終圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述視頻處理系統(tǒng)[21]由FPGA芯片、視頻編碼電路、視頻解碼電路、存儲(chǔ)電路組成;視頻信號(hào)由視頻解碼電路轉(zhuǎn)換成能由FPGA控制的信號(hào)輸入FPGA芯片內(nèi)部,在圖像的中心,將輸出像素點(diǎn)變成全黑的像素點(diǎn),即輸出十字分劃線(xiàn);在電路的外部加有50MHz的晶振,晶振輸入信號(hào)被分成1Hz的信號(hào)輸入與門(mén)模塊;外部開(kāi)關(guān)與5V電源連接,當(dāng)開(kāi)關(guān)被按下與門(mén)被打開(kāi),晶振的分頻信號(hào)被輸入到視頻信號(hào)疊加模塊控制原來(lái)十字分化線(xiàn)的行、列的位置,從而達(dá)到十字分化線(xiàn)移動(dòng)的目的。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:待測(cè)探測(cè)器[10]隨著旋轉(zhuǎn)測(cè)試軸[12]由直流電機(jī)[14]帶動(dòng)一起圍繞自身縱軸線(xiàn)旋轉(zhuǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述激光發(fā)射系統(tǒng)[7]由1.06um激光器[23]、波長(zhǎng)穩(wěn)定系統(tǒng)[24]、功率穩(wěn)定系統(tǒng)[25]組成;功率穩(wěn)定系統(tǒng)[25]采用自適應(yīng)調(diào)節(jié)方式,波長(zhǎng)穩(wěn)定系統(tǒng)[24]是由AD8830組成的半導(dǎo)體溫度控制電路。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:通過(guò)計(jì)算機(jī)[19]對(duì)待測(cè)探測(cè)器[10]的信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),將要檢測(cè)的待測(cè)探測(cè)器[10]的輸出數(shù)據(jù)與存于計(jì)算機(jī)[19]中的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比對(duì);當(dāng)需要測(cè)量不同型號(hào)待測(cè)探測(cè)器[10]時(shí),改變計(jì)算機(jī)[19]里的程序,完成新的測(cè)量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多象限光電探測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述四維調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[4]能夠改變激光束入射到待測(cè)探測(cè)器[10]探測(cè)面上的位置和角度,可實(shí)現(xiàn)Y、Z方向平動(dòng),X-Z豎直面內(nèi)的俯仰及X-Y水平面內(nèi)的360°旋轉(zhuǎn);角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]通過(guò)螺釘固定在圓弧導(dǎo)軌[16]的滑塊上,圓弧導(dǎo)軌[16]固定在底板[17]的右端;角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]可沿著圓弧導(dǎo)軌[16]在±30°范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),具體調(diào)節(jié)的角度可由角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)[6]的尾部滑塊[26]與底板[17]的圓弧側(cè)面配合組成的圓弧游標(biāo)刻度尺讀出。
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G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類(lèi)目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M11-00 光學(xué)設(shè)備的測(cè)試;其他類(lèi)目未包括的用光學(xué)方法測(cè)試結(jié)構(gòu)部件
G01M11-02 .光學(xué)性質(zhì)的測(cè)試
G01M11-08 .機(jī)械性能的測(cè)試
G01M11-04 ..光學(xué)實(shí)驗(yàn)臺(tái)
G01M11-06 ..車(chē)輛前燈裝置的對(duì)光測(cè)試
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