[發(fā)明專利]一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110313172.0
• 申請日: 2011-10-14
• 公開（公告）號: CN102386982A
• 公開（公告）日: 2012-03-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 萬燕斌
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262
• 代理人: 李健;龍洪

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及移動終端生產(chǎn)測試領(lǐng)域，具體涉及一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置和方法。

背景技術(shù)

隨著無線通信發(fā)達越來越快，對移動終端射頻性能的要求也越來越高，除了在產(chǎn)品研發(fā)階段各器件的匹配調(diào)整、硬件線路的最優(yōu)化調(diào)節(jié)之外，最主要的是在移動終端生產(chǎn)測試時通過一個校調(diào)工位來保證移動終端射頻性能。生產(chǎn)測試會對校調(diào)工位的射頻做一個綜合測試，校調(diào)工位對射頻器件的一致性、貼片、溫度等方面導(dǎo)致的差異做補償，使射頻性能達到通信行業(yè)的標準。校調(diào)工位和綜合測試是移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)最關(guān)鍵的組成部分，如圖1所示，移動終端生產(chǎn)測試系統(tǒng)包括測試設(shè)備、待測件、PC機及連接線纜，測試設(shè)備一般用綜測儀，有的廠家也用信號源加頻譜儀的方式，連接線纜有串口數(shù)據(jù)通信線纜，儀表控制通信線纜(GPIB總線、PXI總線或網(wǎng)線)及射頻信號通訊線纜三種。

測試系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵因素有兩方面，一方面是芯片的校調(diào)及測試算法，另一方面是測試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。芯片校調(diào)及測試算法一般都是根據(jù)芯片的規(guī)則及移動終端業(yè)界的測量方面而定，系統(tǒng)誤差在測試系統(tǒng)中以線損的方式出現(xiàn)，在通訊通路上區(qū)分為上行鏈路線損和下行鏈路線損兩部分。

目前的生產(chǎn)測試系統(tǒng)誤差計量一般將一個特制的主板或終端(以下稱為金機金板)作為基準來計量測試系統(tǒng)的線損，該金機金板的最大功率是預(yù)先測量出來的，系統(tǒng)誤差一般通過線纜廠家的推薦值估算，測量設(shè)備(包括綜測儀或頻譜儀)可以測出金機金板發(fā)出信號的功率與金板設(shè)定的發(fā)射信號功率的差值，即系統(tǒng)的上行鏈路線損，作為測試系統(tǒng)的測試誤差，現(xiàn)有的方法將測試系統(tǒng)的下行鏈路線損設(shè)置為與該上行鏈路線損一致。

在實際應(yīng)用中上述計量系統(tǒng)誤差方法表現(xiàn)出來的缺點是：

1.金機金板在制作時本身就存在一定的制作誤差問題，系統(tǒng)線損采用的是一個估算值，并不準確；

2.金機金板本身在測量時，每次發(fā)射信號的功率都會存在一點差別，有波動，一致性不好；

3.測量設(shè)備本身有線路衰減，且實際情況中測試系統(tǒng)的上下行鏈路線損是不一致的，而現(xiàn)有的方法為了方便將兩者設(shè)置為一致，忽略了上下行鏈路線損的不一致性。

綜上，現(xiàn)有的移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法在系統(tǒng)精度上不準確，由于金機金板發(fā)射信號時就存在誤差，使得測量設(shè)備不能準確地測出射頻線路衰減以及測量設(shè)備本身的內(nèi)部損耗，最終無法準確地計量測試系統(tǒng)的誤差，面對目前市場上對移動終端射頻性能越來越高的要求，這會影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明需要解決的技術(shù)問題是提供一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置及方法，提高移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性及可靠性。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置，包括測試設(shè)備、輸出模塊，其特征在于：還包括信號源和功率計，其中，

所述信號源用于發(fā)射上行測試信號；

所述功率計與所述信號源相連，用于根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗；

所述測試設(shè)備與所述信號源相連，用于測量所述上行測試信號的線路損耗；

所述輸出模塊分別與所述功率計和所述測試設(shè)備相連，用于讀取所述功率計的測量值和所述測試設(shè)備的測量值，將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。

進一步地，所述上行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。

進一步地，所述功率計用于測量信號源的內(nèi)部損耗，包括：

所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。

進一步地，所述測試設(shè)備用于測量所述上行測試信號的線路損耗，包括：

所述測試設(shè)備獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的所述上行測試信號的實際功率值為D，將A-D作為所述上行測試信號的線路損耗。

進一步地，所述測試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，用于發(fā)射下行測試信號；

所述功率計還與所述測試設(shè)備相連，用于測量所述下行測試信號的線路損耗；

所述輸出模塊，還用于讀取所述功率計的測量值，將所述功率計測量得到的所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。

進一步地，所述下行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。

進一步地，所述功率計用于測量所述下行測試信號的線路損耗，包括：