[發明專利]高精度激光吸收率測量裝置

有效

• 申請號: 201110311703.2
• 申請日: 2011-10-14
• 公開（公告）號: CN102435582A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 高愛華;劉衛國;閆麗榮
• 申請（專利權）人: 西安工業大學
• 主分類號: G01N21/39
• 分類號: G01N21/39;G01N21/01
• 代理公司: 西安新思維專利商標事務所有限公司 61114
• 代理人: 黃秦芳

1.一種高精度激光吸收測量裝置，包括光學平臺（20）、計算機（21）和控制組件，所述光學平臺（20）上安裝有光學平板（19），光學平板（19）上設置有光學測量組件，其特征在于：所述光學測量組件包括激光光源（1）、聲光調制器（2）、光束整形組件（3）、透反鏡（4）、反射鏡（5）和積分球（7），其中激光光源（1）、聲光調制器（2）、光束整形組件（3）、透反鏡（4）和反射鏡（5）位于同一光路上，積分球（7）上設置有3處開孔，分別是第一開孔（6）、第二開孔（9）和第三開孔（11），第一開孔（6）處設置有導光管（8），導光管（8）沿第一開孔（6）與第二開孔（9）的中心連線方向設置，第三開孔（11）處設置有第一光電探測器（12）,所述反射鏡（5）提供的入射光沿導光管（8）射入第二開孔（9）處放置的樣品（10）上，入射角與鏡面反射角之間的法線穿過積分球（7）的球心，入射角的設置原則是鏡面反射光在積分球內并遠離第一光電探測器（12）的光敏面，第一光電探測器（12）的前端設置有保護擋板（13），保護擋板（13）的表面與積分球內表面處理相同；

所述控制組件包括第一鎖相放大器（15）、第二鎖相放大器（16）、同步數據采集單元（17）和波形發生器（18），計算機（21）控制波形發生器（18）輸出方波信號，此方波信號用于聲光調制器（2）的調制驅動，同時此方波信號被送至第一鎖相放大器（15）和第二鎖相放大器（16）中；透反鏡（4）的反射光由其光路上設置的第二光電探測器（14）后轉換成電信號，此電信號經第一鎖相放大器（15）后輸出去噪后的電壓信號，該電壓信號經同步數據采集單元（17）采集后送入計算機（21）；所述第一光電探測器(12)輸出電信號經第一鎖相放大器(15)后輸出去噪后的電壓信號，該電壓信號經同步數據采集單元(17)采集后送入計算機(21)。

2.根據權利要求1所述一種高精度激光吸收率測量裝置，其特征在于：所述激光光源(1)發出的激光以布喇格角射入聲光調制器(2)，聲光調制器(2)的一級衍射光作為測量用的入射光，計算機(21）控制波形發生器（18）輸出方波信號，此方波信號用于聲光調制器（2）的調制驅動。

3.?根據權利要求1或2所述一種高精度激光吸收測量裝置，其特征在于：所述聲光調制器（2）和光束整形組件（3）之間設有衰減片。