[發明專利]量測數據上下偏差生成系統及方法

無效

• 申請號: 201110309825.8
• 申請日: 2011-10-13
• 公開（公告）號: CN103049627A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 張旨光;袁忠奎;李東海;吳偉文;余娜
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種量測數據分析系統及方法，特別是關于一種量測數據上下偏差生成系統及方法。

背景技術

在制造行業，工件尺寸的量測對保證產品質量起著重要的作用。制造企業獲得并分析量測數據，根據分析結果對制造流程進行控制，從而實現產品質量的持續提高。一般來說，工件尺寸有其標準值及上下偏差，該上下偏差指定了該工件尺寸可以允許的誤差范圍。例如，某一圓直徑的標準值為10mm，其上下偏差值為±0.05mm(即上偏差0.05mm，下偏差-0.05mm)，則只要這個圓直徑在9.95～10.05mm之間都是合格的。不同工件尺寸由于精度的不同，其上下偏差值會不同。當處理大量量測數據時，確定量測數據的上下偏差變得費時且易于出錯。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種量測數據上下偏差生成系統，能夠自動生成量測數據的上下偏差。

此外，還有必要提供一種量測數據上下偏差生成方法，能夠自動生成量測數據的上下偏差。

一種量測數據上下偏差生成系統，運行于數據處理設備中，該系統包括：設定模塊，用于設定各個小數位數對應的上下偏差；接收模塊，用于接收量測數據及量測數據的標準值；匹配模塊，用于確定所述標準值的小數位數，將標準值的小數位數與設定的上下偏差進行匹配，得到量測數據的上下偏差；及輸出模塊，用于輸出量測數據、量測數據的標準值及上下偏差。

一種量測數據上下偏差生成方法，應用于數據處理設備中，該方法包括步驟：設定各個小數位數對應的上下偏差；接收量測數據及量測數據的標準值；確定所述標準值的小數位數，將標準值的小數位數與設定的上下偏差進行匹配，得到量測數據的上下偏差；及輸出量測數據、量測數據的標準值及上下偏差。

本發明根據量測數據標準值的小數位數生成量測數據的上下偏差，提高了量測數據的分析效率。

附圖說明

圖1為本發明量測數據上下偏差生成系統較佳實施例的運行環境示意圖。

圖2為圖1中量測數據上下偏差生成系統的功能模塊圖。

圖3為本發明量測數據上下偏差生成方法較佳實施例的流程圖。

主要元件符號說明

??量測數據上下偏差生成系統??10??數據處理設備??11??存儲設備??12??處理器??13??顯示設備??14??設定模塊??210??接收模塊??220??匹配模塊??230??判斷模塊??240??輸出模塊??250

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式