[發明專利]一種LED芯片發光角度、分布的測試方法無效
| 申請號： | 201110309198.8 | 申請日： | 2011-10-13 |
| 公開（公告）號： | CN102445270A | 公開（公告）日： | 2012-05-09 |
| 發明（設計）人： | 王禮中;薛旭杰;陶淳;張黎鑫;李玉榮;樊美榮 | 申請（專利權）人： | 上海藍光科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J1/00 | 分類號： | G01J1/00;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所 31219 | 代理人： | 李儀萍 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 led 芯片 發光 角度 分布 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種LED芯片發光角度、分布的測試方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
步驟一，選擇LED支架，在該LED支架的中心或圓心上點上少量銀膠或絕緣膠；
步驟二，采用背面刺晶的方式將芯片粘在銀膠或絕緣膠上，并保證芯片在LED支架上左右、上下對稱；
步驟三，將帶有LED芯片的LED支架放在烤箱中烘烤，時間為30～50分鐘；
步驟四，將帶有LED芯片的LED支架沿β方向或α方向選取測試點測試其發光強度Iv值；
步驟五：將步驟四中測試點對應的角度做為橫坐標X軸，發光強度Iv值為縱坐標Y軸；將測試點對應的角度上對應的發光強度連接起來形成的曲線；并將曲線與極坐標1/2處兩邊的交點與0°度做連線，兩條連線的夾角形成的角度即為發光角度。
2.如權利要求1所述的一種LED芯片發光角度的測試方法，其特征在于，所述步驟一中選擇平底且不具備聚光效果的LED支架。
3.如權利要求1所述的一種LED芯片發光角度的測試方法，其特征在于，所述步驟三中將帶有LED芯片的LED支架放在烤箱中烘烤45分鐘。
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