[發明專利]半導體裝置和數據處理方法有效
| 申請號： | 201110307886.0 | 申請日： | 2011-10-12 |
| 公開（公告）號： | CN102651229A | 公開（公告）日： | 2012-08-29 |
| 發明（設計）人： | 文眞永 | 申請（專利權）人： | 海力士半導體有限公司 |
| 主分類號： | G11C7/10 | 分類號： | G11C7/10;G11C7/22 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;許偉群 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 裝置 數據處理 方法 | ||
1.一種半導體裝置，包括
總線反轉信息DBI處理單元，所述DBI處理單元被配置成當接收多比特數據、計算所述數據的DBI信息并輸出多個DBI標志信號時，產生所述多個DBI標志信號使得每個DBI標志信號反映出所述數據的預定比特的DBI信息；
第一循環冗余校驗CRC處理單元，所述第一CRC處理單元被配置成使用所述多比特數據和在所述多個DBI標志信號中計算出的部分DBI標志信號來計算CRC信息并輸出多個CRC信號；以及
第二CRC處理單元，所述第二CRC處理單元被配置成使用所述多個CRC信號和在所述多個DBI標志信號中計算出的其余DBI標志信號來輸出CRC碼。
2.根據權利要求1所述的半導體裝置，還包括：
數據處理單元，所述數據處理單元被配置成響應于DBI使能信號和所述多個DBI標志信號來選擇性地將所述多比特數據反相，并輸出反相的數據作為輸出數據。
3.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，所述DBI處理單元被配置成確定所述數據的預定比特的多數的值，并基于確定結果來決定每個DBI標志信號的電平。
4.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，所述第一CRC處理單元被配置成對所述多比特數據和所述部分DBI標志信號進行異或操作并產生所述多個CRC信號。
5.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，所述第二CRC處理單元被配置成對所述多個CRC信號和所述其余DBI標志信號執行異或操作并產生所述多個CRC碼。
6.根據權利要求2所述的半導體裝置，其中，所述數據處理單元包括：
DBI延遲模型部，所述DBI延遲模型部被配置成將所述多比特數據延遲所述DBI處理單元用來計算所述DBI信息所需的時間段，并輸出延遲后的數據；
信號反相部，所述信號反相部被配置成對從所述DBI延遲模型部輸出的信號進行反相并輸出；
第一選擇部，所述第一選擇部被配置成響應于所述多個DBI標志信號來選擇性地輸出所述DBI延遲模型部的輸出信號和所述信號反相部的輸出信號中的一個；以及
第二選擇部，所述第二選擇部被配置成響應于所述DBI使能信號來選擇性地輸出所述多比特數據和所述第一選擇部的輸出信號中的一個。
7.一種數據處理方法，包括以下步驟：
接收多比特數據，計算所述數據的DBI信息并輸出多個DBI標志信號；
使用所述多比特數據和從所述多個DBI標志信號中計算出的部分DBI標志信號來計算CRC信息，并輸出多個CRC信號；以及
使用所述多個CRC信號和所述多個DBI標志信號中的其余DBI標志信號來輸出CRC碼。
8.根據權利要求7所述的數據處理方法，還包括以下步驟：
響應于所述多個DBI標志信號來選擇性將所述多比特數據反相，并輸出反相的數據作為輸出數據。
9.根據權利要求7所述的數據處理方法，其中，當輸出所述多個DBI標志信號時，確定所述數據的預定比特的多數的值，并基于確定結果來決定每個DBI標志信號的電平。
10.根據權利要求7所述的數據處理方法，其中，當輸出所述多個CRC信號時，對所述多比特數據和所述部分DBI標志信號進行異或操作以產生所述多個CRC信號。
11.根據權利要求7所述的數據處理方法，其中，當輸出所述CRC碼時，對所述多個CRC信號和所述其余DBI標志信號執行異或操作以產生所述多個CRC碼。
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