[發(fā)明專利]用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法及其設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110304762.7 | 申請日: | 2011-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN102593238A | 公開(公告)日: | 2012-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙軍;梅芳 | 申請(專利權(quán))人: | 上方能源技術(shù)(杭州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;B23K26/36 |
| 代理公司: | 湖州金衛(wèi)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33232 | 代理人: | 趙衛(wèi)康 |
| 地址: | 311215 浙江省杭*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 薄膜 太陽能電池 激光 劃線 方法 及其 設(shè)備 | ||
1.?用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法,包括兩道劃線P1和P2,P1劃線使用激光對透明導(dǎo)電氧化物膜層進行劃線,P2劃線使用激光對半導(dǎo)體膜層進行劃線,其特征在于:所述兩道劃線P1和P2均在半導(dǎo)體鍍膜之后和背電極鍍膜之前的時間內(nèi)進行,所述P1劃線穿越所述半導(dǎo)體膜層和所述透明導(dǎo)電氧化物膜層形成第一溝槽;所述P2劃線穿越所述半導(dǎo)體膜層形成與所述第一溝槽相平行的第二溝槽。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法,其特征在于還包括:采用絕緣材料填充所述P1劃線后形成的所述第一溝槽。
3.?根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法,其特征在于:所述絕緣材料為絕緣材料墨水,所述填充通過噴墨打印形成。
4.?根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法,其特征在于:在所述半導(dǎo)體膜層上進行背電極鍍膜形成背電極層,然后在所述背電極層上進行第三道P3劃線,所述P3劃線穿越所述背電極層形成第三溝槽。
5.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于薄膜太陽能電池的激光劃線方法的劃線設(shè)備,其特征在于:包括兩個或兩組激光頭,一個或一組用于P1劃線,另一個或一組用于P2劃線,使用激光劃線形成的第一溝槽和第二溝槽相互平行。
6.?根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于薄膜太陽能電池的劃線設(shè)備,其特征在于:在所述劃線設(shè)備的平臺上還配備有填充裝置。
7.?根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于薄膜太陽能電池的劃線設(shè)備,其特征在于:所述填充裝置為噴墨式打印頭或激光打印頭。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上方能源技術(shù)(杭州)有限公司,未經(jīng)上方能源技術(shù)(杭州)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110304762.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





