[發明專利]內窺鏡系統

有效

• 申請號: 201110303535.2
• 申請日: 2011-09-29
• 公開（公告）號: CN102429627A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 巖根弘亮
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: A61B1/04
• 分類號: A61B1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 吳敬蓮

1.一種內窺鏡系統，包括：

內窺鏡，用于以圖像傳感器捕獲圖像；

存儲裝置，用于存儲不均勻靈敏度校正參數；

不均勻靈敏度校正裝置，用于使用存儲在所述存儲裝置中的所述不均勻靈敏度校正參數來校正所述圖像傳感器的不均勻靈敏度；和

參數產生裝置，用于產生所述不均勻靈敏度校正參數，

其中，所述參數產生裝置從由所述圖像傳感器捕獲的圖像形成校正圖像，并產生所述不均勻靈敏度校正參數，以便只校正所述校正圖像的高頻成分。

2.根據權利要求1所述的內窺鏡系統，其中，所述參數產生裝置從所述校正圖像中提取高頻成分并且產生所述不均勻靈敏度校正參數，以便只校正提取的高頻成分的不均勻靈敏度。

3.根據權利要求1所述的內窺鏡系統，其中，所述參數產生裝置產生臨時不均勻靈敏度校正參數，用于完全地校正所述校正圖像的不均勻靈敏度，并且所述參數產生裝置用預先獲得的關于所述內窺鏡的陰影的信息來校正臨時不均勻靈敏度校正參數，以產生所述不均勻靈敏度校正參數。

4.根據權利要求1所述的內窺鏡系統，其中，所述參數產生裝置產生所述不均勻靈敏度校正參數，以便僅校正所述校正圖像的中心部分的不均勻靈敏度。

5.根據權利要求4所述的內窺鏡系統，其中，所述校正圖像的所述中心部分是光量是中心的光量的至少三分之二的圖像數據的區域。

6.根據權利要求1所述的內窺鏡系統，其中，所述參數產生裝置將所述校正圖像劃分成區段并且產生所述不均勻靈敏度校正參數，使得對于每個所述區段校正所述不均勻靈敏度。

7.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統，所述內窺鏡系統具有在特殊光下觀測的功能。

8.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統，其中所述參數產生裝置通過篩選由圖像傳感器捕獲的圖像來選擇預定數量的用于產生所述校正圖像的圖像，并使用預定數量的選擇圖像來產生所述校正圖像。

9.根據權利要求8所述的內窺鏡系統，其中，當所述預定數量的選擇圖像中的圖像的指定區域的平均圖像數據在規定范圍以外時，所述參數產生裝置不使用所述圖像來產生所述校正圖像。

10.根據權利要求8所述的內窺鏡系統，其中當所述預定數量的選擇圖像中的圖像相對于用于判斷的指定圖像的變化沒有超過指定閾值時，所述參數產生裝置不使用所述圖像來產生所述校正圖像。

11.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統，其中所述存儲裝置和所述不均勻靈敏度校正裝置設置在所述內窺鏡中。

12.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統，其中所述參數產生裝置設置在所述內窺鏡中。

13.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統，其中所述參數產生裝置設置在除所述內窺鏡以外的部分中。