[發明專利]特征值提取方法及系統

無效

• 申請號: 201110303234.X
• 申請日: 2011-09-26
• 公開（公告）號: CN103020951A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 柴志雷;任小龍;高衛東;劉基宏;潘如如;梁久禎;張平;鐘傳杰
• 申請（專利權）人: 江南大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種特征值提取方法，其特征在于，所述方法包括：

對輸入圖像的行和列分別進行一維卷積計算以獲得各個有效點的水平梯度；

對輸入圖像的行和列分別進行一維卷積計算以獲得各個有效點的垂直梯度；

分別計算各個有效點的水平梯度平方值、水平梯度與垂直梯度的乘積和垂直梯度平方值；

分別累計以當前有效點為中心的預定大小窗口內的各個有效點的水平梯度平方值和、水平梯度與垂直梯度的乘積和和垂直梯度平方值和；

根據所述窗口內的各個有效點的水平梯度平方值和、水平梯度與垂直梯度的乘積和和垂直梯度平方值和計算當前有效點的特征值。

2.根據權利要求1所述的特征值提取方法，其特征在于，所述對輸入圖像的行和列分別進行一維卷積計算以獲得各個有效點的水平梯度包括：

按行利用第一卷積核進行一維卷積計算，設當前有效點的像素值為g(x，y)，第一卷積核為(f1、f2、...、fM)，則按行利用第一卷積核進行一維卷積計算為：

G(x,y)=g(x-M-12,y)*f1+g(x-M-12+1,y)*f2+...+g(x,y)*fM+12+...+g(x+M-12,y)*fM]]>

其中，(x，y)為有效點在輸入圖像中的坐標，有效點的x大于M為大于等于3的奇數；

然后按列利用第二卷積核進行一維卷積計算，設第二卷積核為(F1、F2、...、FN)，則按列利用第二卷積核進行一維卷積計算為：

Grad_X=G(x,y-N-12)*F1+G(x,y-N-12+1)*F2+...+G(x,y)*FN+12+...+G(x,y+N-12)*FN]]>

其中，有效點的y大于N為大于等于3的奇數；

所述對輸入圖像的行和列分別進行一維卷積計算以獲得各個有效點的垂直梯度包括：

按行利用第二卷積核進行一維卷積計算，設當前有效點的像素值為g(x，y)，第二卷積核為(F1、F2、...、FN)，則按行利用第一卷積核進行一維卷積計算為：

G′(x,y)=g(x-N-12,y)*F1+g(x-N-12+1,y)*F2+...+g(x,y)*FN+12+...+g(x+N-12,y)*FN]]>

其中，(x，y)為有效點在輸入圖像中的坐標，有效點的x大于N為大于等于3的奇數；

然后按列利用第一卷積核進行一維卷積計算，設第一卷積核為(f1、f2、...、fM)，則按列利用第一卷積核進行一維卷積計算為：

Grad_Y=G′(x,y-M-12)*f1+G′(x,y-M-12+1)*f2+...+G′(x,y)*fM+12+...+G′(x,y+M-12)*fM]]>

其中，有效點的y大于M為大于等于3的奇數。