[發明專利]具有高設計自由度的加熱設備和圖像形成裝置

有效

• 申請號: 201110302264.9
• 申請日: 2011-10-09
• 公開（公告）號: CN102448206A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 須田健之
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: H05B6/10
• 分類號: H05B6/10;H05B6/06;G03G15/20
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 楊小明

技術領域

本發明涉及一種用于通過電磁感應對要被加熱的構件進行加熱的加熱設備和圖像形成裝置。

背景技術

按照慣例，已知用于通過電磁感應對要被加熱的構件(以下稱為“待加熱構件”)進行加熱的加熱設備。例如，在諸如復印機或打印機的圖像形成裝置中，這樣的加熱設備通過電磁感應對作為待加熱構件的金屬輥或金屬帶進行加熱，并使用加熱的待加熱構件的熱量使形成在片材上的調色劑圖像定影。

還已知如日本專利公開公報No.2007-328159中所公開的這種類型的圖像形成裝置，該圖像形成裝置檢測作為待加熱構件的金屬帶的狀態的改變，諸如損壞。

圖9示意性地顯示日本專利公開公報No.2007-328159中所公開的作為用于圖像形成裝置的加熱設備的定影設備。所述定影設備具有以彼此隔開的方式分別布置在上游側和下游側的入口上輥6和出口上輥7。作為環形金屬帶的定影帶2在入口上輥6與出口下輥7之間卷繞和拉伸。用于將壓力施加于片材的夾持墊8和溫度檢測熱敏電阻4布置在定影帶2內部。入口下輥10和出口下輥11以彼此隔開的方式分別布置在上游側和下游側，環形加壓帶9在入口下輥10與出口下輥11之間卷繞和拉伸。夾持墊12設置在加壓帶9內部。用于檢測磁通量的天線3設置在定影帶2內部、與感應加熱線圈1相對的位置處，定影帶2位于天線3與感應加熱線圈1之間。天線3連接至未顯示的通電禁止電路(energization?inhibition?circuit)。

進入天線3的磁通量根據定影帶2的狀態而變化，因此，圖像形成裝置被配置為根據進入天線3的磁通量檢測定影帶2的狀態，并使通電禁止電路可操作為：如果定影帶2的狀態存在異常，則停止感應加熱線圈1的操作。

然而，在日本專利公開公報No.2007-328159中所公開的圖像形成裝置中，夾持墊8和溫度檢測熱敏電阻4布置在定影帶2的內部，因此，天線3的形狀和材料受限。此外，定影帶2的內部在高溫環境下，因此，對于天線3必須使用成本高的耐熱構件，這降低了設計自由度。

此外，通常，為了防止除了作為待加熱構件的定影帶2之外的構件(特別是不希望被加熱的構件)通過感應加熱而產生熱量，圖像形成裝置設有磁屏障。然而，磁屏障有時不利地影響天線3，使得從天線3輸出的電壓降低，這有時使得難以檢測到小的磁通量。

發明內容

本發明提供一種加熱設備和圖像形成裝置，該加熱設備和圖像形成裝置使得可改進設計自由度，以提高檢測待加熱構件的狀態的精度，并易于降低成本。

在本發明的第一方面，提供一種加熱設備，包括：線圈，所述線圈通過穿過它的電流的流動產生磁通量；芯，所述芯由磁性材料形成，用于形成磁路；待加熱構件，所述待加熱構件被配置為通過由所述線圈產生的磁通量的作用產生熱量；磁通量檢測單元，所述磁通量檢測單元設置在與所述待加熱構件相對的區域中，用于檢測穿過該區域的磁通量，所述芯位于所述磁通量檢測單元與所述待加熱構件之間；以及，控制單元，所述控制單元被配置為基于所述磁通量檢測單元的檢測結果來確定所述待加熱構件的狀態是否已經改變。

在本發明的第二方面，提供一種圖像形成裝置，包括：轉印單元，所述轉印單元被配置為將調色劑圖像轉印到記錄介質上；線圈，所述線圈通過穿過它的電流的流動產生磁通量；芯，所述芯由磁性材料形成，用于形成磁路；定影帶，所述定影帶被配置為通過由所述線圈產生的磁通量的作用產生熱量，從而對轉印到記錄介質上的調色劑圖像進行加熱；磁通量檢測單元，所述磁通量檢測單元設置在與所述定影帶相對的區域中，用于檢測穿過該區域的磁通量，所述芯位于所述磁通量檢測單元與所述定影帶之間；以及，控制單元，所述控制單元被配置為基于所述磁通量檢測單元的檢測結果來確定所述定影帶的狀態是否已經改變。

根據本發明，可改進設計自由度，以提高檢測待加熱構件的狀態的精度，并易于降低成本。

從結合附圖進行的以下詳細描述，本發明的特征和優點將變得更清晰。

附圖說明

圖1是應用根據本發明實施例的加熱設備的圖像形成裝置的整個布置的示意圖。

圖2是定影單元的示意圖。

圖3是定影單元的控制機構的框圖。

圖4是AC到DC轉換電路的電路圖。

圖5A～5C分別是顯示天線的輸出的波形、AC到DC轉換電路的輸出的波形和DC波形的視圖。

圖6A和6B分別是顯示當定影帶正常時和當定影帶異常時所形成的磁路的視圖。