[發(fā)明專利]一種氣體樣品池密封方法、氣體樣品池及環(huán)境監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110301850.1
• 申請(qǐng)日: 2011-10-08
• 公開（公告）號(hào): CN102434670B
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 崔厚欣
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京雪迪龍科技股份有限公司
• 主分類號(hào): F16J15/14
• 分類號(hào): F16J15/14;G01N21/01
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 逯長明

1.一種氣體樣品池密封方法，其特征在于，包括：

在氣體樣品池的池體上銑出一圈密封槽，并在所述氣體樣品池的池蓋 上銑出與所述密封槽匹配的凸臺(tái)，所述密封槽的寬度大于所述凸臺(tái)的寬 度，所述密封槽的高度大于所述凸臺(tái)的高度；

在所述密封槽內(nèi)灌入橡膠型密封膠，灌入的所述橡膠型密封膠的高度 小于所述密封槽的高度，且灌入的所述橡膠型密封膠的高度與所述凸臺(tái) 的高度之和大于所述密封槽的高度；

將所述池蓋安放到所述池體上，則所述池蓋在重力作用下深入到所述 橡膠型密封膠內(nèi)，擠壓所述橡膠型密封膠填充到所述池體與所述池蓋的 所有空隙處以形成密封；

所述橡膠型密封膠的高度H3至少為H3＝(L1*H1-L2*H2)/L1，其中， L1和H1分別為所述密封槽的寬度和高度，L2和H2分別為所述凸臺(tái)的 寬度和高度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，在所 述密封槽內(nèi)灌入橡膠型密封膠為：使用針筒將所述橡膠型密封膠灌入所 述密封槽內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，在所 述密封槽內(nèi)灌入橡膠型密封膠為：使用滴膠機(jī)將所述橡膠型密封膠灌入 所述密封槽內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，所述 空隙位于所述密封槽和所述凸臺(tái)之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，所述 空隙位于所述密封槽和所述凸臺(tái)之間，以及所述池體和所述池蓋的接觸 面之間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，所述 橡膠型密封膠為硫化硅橡膠。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的氣體樣品池密封方法，其特征在于，所述 硫化硅橡膠為704硅橡膠。

8.一種氣體樣品池，采用如權(quán)利要求1所述的密封方法，包括池蓋 和池體，其特征在于，所述池體上銑有一圈密封槽，且所述池蓋上銑有 與所述密封槽匹配的凸臺(tái)，在所述池體和所述池蓋的所有空隙處填充有 橡膠型密封膠；所述橡膠型密封膠的高度H3至少為 H3＝(L1*H1-L2*H3)/L1，其中，L1和H1分別為所述密封槽的寬度和高度， L2和H2分別為所述凸臺(tái)的寬度和高度。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的氣體樣品池，其特征在于，所述空隙位于 所述密封槽和所述凸臺(tái)之間。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的氣體樣品池，其特征在于，所述空隙位于 所述密封槽和所述凸臺(tái)之間，以及所述池體和所述池蓋的接觸面之間。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的氣體樣品池，其特征在于，所述橡膠型密 封膠為硫化硅橡膠；

所述硫化硅橡膠為704硅橡膠。

12.一種環(huán)境監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，包括采集器、預(yù)處理器和光學(xué)監(jiān)測(cè)設(shè)備，其 特征在于，還包括：如權(quán)利要求8至11任意一項(xiàng)所述的氣體樣品池。