[發明專利]伸縮式多級千分尺研具及其研修方法

有效

• 申請號: 201110300892.3
• 申請日: 2011-09-29
• 公開（公告）號: CN102501164A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 范學江;晏效鋒;鄧秀峰;韓敏;趙曉琴
• 申請（專利權）人: 中國航空工業第六一八研究所
• 主分類號: B24B37/08
• 分類號: B24B37/08;B24B37/11
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

技術領域

本發明屬于新型研具，涉及一種適用于測量范圍(0-300)mm外徑千分尺測量面的研修。

背景技術

國產外徑千分尺固定測砧不可拆卸，在測量范圍(0～300)mm內每間隔25mm一個規格，共12種規格，每個規格都需要用一套尺寸差為0.125mm的4根研具對其兩測量面的平面度、平行度、表面粗糙度進行研修。12個規格的外徑千分尺共需要12套，共48根。

原來的12套共48根研具由于直徑尺寸不合理，經使用后產生中間凹外圈凸且兩研磨面不平行的現象。因此當兩研磨面平行度大于0.002mm時，就要對研具進行研修，尤其研具長度大于125mm時修理耗時、費力、效率很低。

發明內容

本發明的目的是：提供一種結構簡單、研修效率高的伸縮式多級千分尺研具。

另外，本發明還提供所述伸縮式多級千分尺研具的平行度研究方法。

本發明的技術方案是：一種伸縮式多級千分尺研具，其包括若干根尺寸不同的研具，其中任一根研具包括固定研磨面、初級套筒、2級套筒、軸柱、凹凸軸套、可調研磨面和防脫套，所述可調研磨面設置在凹凸軸套的頂端平面上，該凹凸軸套下端具有收容軸柱凸頭的凹槽，所述軸柱下端套在2級套筒內，該2級套筒為上端開口，下端封閉的筒狀結構，所述2級套筒套在上下兩端就開口的初級套筒內，而所述固定研磨面為二層圓臺結構，其直徑較小的上圓臺套在初級套筒的下端內，且該初級套筒和固定研磨面相接處的外表面套設防脫套，所述可調研磨面、凹凸軸套、軸柱、2級套筒、初級套筒以及固定研磨面的中心均同軸，且設置在千分尺的兩端測量區內，其中，千分尺的固定端和測量分別頂在固定研磨面和可調研磨面的外端，且凹凸軸套、軸柱、2級套筒、初級套筒上設有用于相互緊固的緊固螺釘。

包括3根尺寸范圍分別為25～50mm、75～100mm、125～300mm的研具。

所述軸柱為3級軸柱。

防脫套與初級套筒采用頂絲緊固且高于固定研磨面。

一種伸縮式多級千分尺研具的研修方法，其包括如下步驟：

步驟1：將伸縮式多級千分尺研具裝配好后，放置在千分尺兩測量端內，以第一個1/4測微螺桿螺距為研修點，做一邊旋轉一邊前推動作，使外徑千分尺的兩測量面在固定研磨面和可調研磨面上按多邊形軌跡進行研磨；

步驟2：研修后，松開千分尺鎖緊裝置，根據使用的不同尺寸段，松開2級套筒和初級套筒上的緊固螺釘，通過轉動千分尺的微分筒使測微螺桿下移1/4螺距，帶動2級套筒或3級軸柱下移同等距離，調好后再旋緊緊固螺釘，用上述方法進行第二個1/4測微螺桿螺距研修點進行研磨研修；

步驟3：用類似方法，依次進行第三、第四個1/4測微螺桿螺距研修點修研；

步驟4：四個1/4測微螺桿螺距研修點修好后，松開千分尺鎖緊裝置，轉動微分筒取下研具，完成外徑千分尺的研修。

本發明的優點是：本發明采用軸套多級配合，用3根新型研具代替老式48根研具，有效簡化了研具結構，并能對測量范圍(0-300)mm外徑千分尺測量面平面度、平行度、表面粗糙度的研修，對于整體維修效率提高3倍、尤其是測量范圍較大的千分尺測量面的研修效率提高4～6倍，有效節省維修成本及擺放空間，具有較大的實際應用價值。

附圖說明

圖1是本發明伸縮式多級千分尺研具一較佳實施方式的結構示意圖，

圖2是圖1的局部A向視圖，

其中，1-固定研磨面、2-初級套筒、3-2級套筒、4-軸柱、5-凹凸軸套、6-可調研磨面、7-防脫套、8-緊固螺釘、9-千分尺、10-通氣槽。

具體實施方式

下面對本發明做進一步詳細說明。

本發明采取機械式工裝夾具與db軸套配合，制成伸縮式多級千分尺研具，一套共3根，尺寸范圍分別為(25～50)mm、(75～100)mm、(125～300)mm，用于測量范圍(0-300)mm外徑千分尺測量面平面度、平行度、表面粗糙度不合格的研修。其中，本發明所指的研具尺寸為研具可調節的長度尺寸，如25～50mm，指該研具的最短尺寸為25mm，最長尺寸為50mm。

請參見圖1，是本發明伸縮式多級千分尺研具一較佳實施方式的結構示意圖。根據所研修千分尺9的測量范圍，選取一根伸縮式多級千分尺研具。所述伸縮式多級千分尺研具包括固定研磨面1、初級套筒2、2級套筒3、軸柱4、凹凸軸套5、可調研磨面6、防脫套7和千分尺9。