[發明專利]盤檢驗方法和盤檢驗裝置無效
| 申請號: | 201110300799.2 | 申請日: | 2011-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN102446531A | 公開(公告)日: | 2012-05-09 |
| 發明(設計)人: | 小林宏明;會田桐;鈴木明俊 | 申請(專利權)人: | 索尼公司;索尼信息技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B20/18 | 分類號: | G11B20/18;G11B20/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 黃小臨 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢驗 方法 裝置 | ||
1.一種盤檢驗方法,包括:
在盤上形成記錄標記;
在旋轉主軸以將滑動器移動每個預定寬度的同時,通過拾取單元從盤的內側向外側或者從外側向內側掃描記錄標記以讀取再現信號;
在信號獲取單元中從再現信號中獲取再現數據;以及
在計算單元中確定再現數據是否正確,并且在確定再現數據不正確時,優化記錄標記的形成條件。
2.根據權利要求1所述的盤檢驗方法,其中在信號獲取單元中,設置采樣率,獲取再現數據,并且基于其首部重新排列再現數據以獲得2維圖。
3.根據權利要求2所述的盤檢驗方法,其中在計算單元中,執行對用于形成圖像的灰度的計算以獲得作為2維圖像的再現數據。
4.根據權利要求3所述的盤檢驗方法,其中計算再現數據的電壓值以從所獲取的2維圖像中獲得3維圖像。
5.根據權利要求1所述的盤檢驗方法,其中從在信號獲取單元中獲取的再現數據中獲取在計算單元中形成的記錄標記的形成位置,將在形成位置中獲取的數據與預設的閾值執行比較以確定再現數據是否正確。
6.一種盤檢驗裝置,包括:
拾取單元,在盤上記錄信號并且從盤中讀取信號;
信號獲取單元,獲取由拾取單元讀取的信號;
計算單元,從信號獲取單元獲取的信號中識別記錄標記的形狀,并且將其與規定值比較;以及
滑動器,移動所述盤,
其中在讀取信號時,將滑動器移動每個規則的寬度,使得通過拾取單元掃描包括記錄標記的整體的區域。
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