[發明專利]電磁感應裝置的坐標校正方法及電磁感應裝置

有效

• 申請號: 201110300255.6
• 申請日: 2011-09-30
• 公開（公告）號: CN102419675A
• 公開（公告）日: 2012-04-18
• 發明（設計）人: 王紅崗;伍松林
• 申請（專利權）人: 漢王科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/046
• 分類號: G06F3/046;G06F3/033
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張雪梅

1.電磁感應裝置的坐標校正方法，該電磁感應裝置具有相互感應電磁信號的電磁板和電磁筆，其特征在于，該方法包括如下步驟：

確定電磁筆在電磁板上觸控的第一接觸點的坐標；

電磁筆經過第一時間t1后在電磁板上從第一接觸點移動至第二接觸點時，確定所述第二接觸點的第一坐標值；

電磁筆經過第二時間t2后在電磁板上從第二接觸點移動至第三接觸點時，確定所述第三接觸點的第二坐標值；

根據第一接觸點的坐標值、第二接觸點的第一坐標值和第三接觸點的第二坐標值以及第一時間t1和第二時間t2獲取第二接觸點的第二坐標的實際坐標值。

2.根據權利要求1所述的電磁感應裝置的坐標校正方法，其特征在于，

所述第一接觸點的坐標值、第二接觸點的第一坐標值和第三接觸點的第二坐標值確定采用同一坐標系；

所述坐標系為直角坐標系，所述第一坐標和第二坐標分別為橫坐標和縱坐標，或所述第一坐標和第二坐標分別為縱坐標和橫坐標；或

所述坐標系為極軸坐標系，所述第一坐標和第二坐標分別為極徑和極角，或所述第一坐標和第二坐標分別為極角和極徑。

3.根據權利要求2所述的電磁感應裝置的坐標校正方法，其特征在于，?

所述的電磁筆第一接觸點的坐標為（x1,y1）；

所述的第二接觸點的第一坐標值為x2；

所述的第三接觸點的第二坐標值為y3；?

所述的第二坐標的實際坐標值為y2=?y3-(y3-y1)*C，其中，C為時間系數，C=t1/(t1+t2)。

4.?根據權利要求2所述的電磁感應裝置的坐標校正方法，其特征在于，

所述的電磁筆第一接觸點坐標為（x1,y1）；

所述的第二接觸點的第一坐標值為y2；

所述的第三接觸點的第二坐標值為x3；

所述的第二坐標的實際坐標值為x2=?x3-(x3-x1)*C，其中，C為時間系數，C=t1/(t1+t2)。

5.根據權利要求1-4任一項所述的電磁感應裝置的坐標校正方法，其特征在于，

所述電磁筆在電磁板上從第一接觸點移動至第二接觸點以及從第二接觸點移動至第三接觸點為勻速移動。

6.一種電磁感應裝置，具有相互感應電磁信號的電磁板和電磁筆，其特征在于，該裝置包括：

控制單元，用于確定電磁筆在電磁板上觸控的第一接觸點的坐標，檢測電磁筆經過第一時間t1后在電磁板上從第一接觸點移動至第二接觸點時確定第二接觸點的第一坐標值，以及電磁筆經過第二時間t2在電磁板上從第二接觸點移動至第三接觸點時，確定第三接觸點的第二坐標值；和

校正單元，用于根據第一接觸點的坐標值、第二接觸點的第一坐標值和第三接觸點的第二坐標值以及第一時間t1和第二時間t2獲取第二接觸點的第二坐標的實際坐標值。

7.根據權利要求6所述的電磁感應裝置，其特征在于，

所述第一接觸點的坐標、第二接觸點的第一坐標值和第三接觸點的第二坐標值的確定采用同一坐標系；

所述坐標系為直角坐標系，所述第一坐標值和第二坐標值分別為橫坐標和縱坐標，或所述第一坐標和第二坐標分別為縱坐標和橫坐標；或

所述坐標系為極軸坐標系，所述第一坐標和第二坐標分別為極徑和極角，或所述第一坐標和第二坐標分別為極角和極徑。

8.根據權利要求7所述的電磁感應裝置，其特征在于，

所述的第一接觸點的坐標為（x1,y1）；

所述的第二接觸點的第一坐標值為x2；

所述的第三接觸點的第二坐標值為y3；?

所述的第二坐標的實際坐標值為y2=?y3-(y3-y1)*C，其中，C為時間系數，C=t1/(t1+t2)。

9.??根據權利要求7所述的電磁感應裝置，其特征在于，

所述的第一接觸點坐標為（x1,y1）；

所述的第二接觸點的第一坐標值為y2；

所述的第三接觸點的第二坐標值為x3；

所述的第二坐標的實際坐標值為x2=?x3-(x3-x1)*C，其中，C為時間系數，C=t1/(t1+t2)。

10.根據權利要求6-9任一項所述的電磁感應裝置，其特征在于，

所述電磁筆在電磁板上從第一接觸點移動至第二接觸點以及從第二接觸點移動至第三接觸點為勻速移動。