[發明專利]焦度計有效
| 申請號: | 201110295669.4 | 申請日: | 2011-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN102564737A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 野澤憲嗣;宮林光 | 申請(專利權)人: | 株式會社尼德克 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 31210 | 代理人: | 肖華 |
| 地址: | 日本愛知縣蒲*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 焦度計 | ||
技術領域
本發明涉及一種用于測量待檢測的目標透鏡的光學特性的焦度計。
背景技術
公知的是焦度計通過投射測量光至透鏡片以及通過受光元件接收穿過該鏡片的光來獲得該透鏡的光學特性(例如,參考專利文獻1)。當要使用這樣的焦度計檢測設置在眼鏡架上的眼鏡或者鏡片時,檢測者首先將該鏡片放置在被稱為鼻托的鏡片托上,該鏡片托具有一孔,測量光學系統的測量光軸及測量光路穿過該孔。然后檢測者將在全框架或者其它的情況下的鏡架(左邊框(rim)和右邊框)或者在無框架或者其它的情況下固定在鏡架中的鏡片(左邊鏡片和右邊鏡片)與鏡架支撐部件的接觸表面相抵接,以限制目標透鏡的移動。鏡架支撐部件可以在接近鏡片托的方向(即,向前方向)和遠離鏡片托的方向(即,向后方向)滑動。保持這樣的狀態的同時,檢測者連同鏡架以及鏡片一起移動鏡架支撐部件,以測量鏡片的預定的部分(位置或者區域)。通過這樣的測量操作,例如即使對于漸進式鏡片,可以測量遠視區(far?vision?zone)和近視區(near?vision?zone)的位置以及加入度數(additional?power)。
相關技術文件
專利文獻
專利文獻1:JP?2006-292650A
發明內容
發明要解決的問題
近來,具有窄的垂直寬度的所謂的半框架鏡架出現在市場上。漸進式鏡片設置在這樣的鏡架(邊框)中的情況也在增加。當漸進式鏡片設置在這樣的半框架鏡架中時,近視區可能位于靠近被加工成適合于鏡架形狀的鏡片的下部(相當于在被戴上狀態下的眼鏡的下部)的邊緣(下邊緣)。如果位于鏡片的下端的近視區將由上述的焦度計來測量,鏡架支撐部件易于接觸(妨礙)鏡片托,因此鏡架支撐部件(鏡架和鏡片)不能再向前移動。
作為應對上述問題的措施,提出了一種將眼鏡架架置于遠離鏡架支撐部件的位置的同時測量鏡片的下端的近視區的方法。然而,當眼鏡架遠離鏡架支撐部件時,鏡架不能被穩定地保持。這個情況可能會引起以下問題,例如柱鏡軸的角度在有位移的時候被測量,無法根據鏡架支撐部件的滑動(移動)量來確定漸進區域(從遠視區到近視區的距離)的長度。
作為另一種措施,有一種在鏡架支撐部件的一部分中設置可以與鏡片托接觸的凹陷(凹口)以便收納鏡片托的方法。然而,如果當眼鏡架接觸鏡架支撐部件時,眼鏡架卡在凹陷中,鏡架也不能被穩定地保持。
鑒于這樣的問題,本發明提供一種即使設置在具有窄的垂直寬度的眼鏡架上的漸進式鏡片的近視區,也可以精確地測量的焦度計。
解決問題的方法
為了實現上述目的,本發明的一個方面提供了一種用于測量眼鏡片的光學特性的焦度計,焦度計包括:包括光源、測量目標板和受光傳感器的測量光學系統;放置待測鏡片的鏡片托,鏡片托具有開口部,測量光學系統的測量光軸穿過開口部;包括鏡架支撐板的鏡架支撐部件,鏡架支撐板具有將與眼鏡架的左邊框和右邊框接觸的接觸面,通過引導機構使鏡架支撐板沿著朝向鏡片托的方向移動,方向指的是向前方向而與之相反的方向指的是向后方向,鏡架支撐部件包括:截除部,被設置在鏡架支撐板中,并且被構成為當鏡片被放置在鏡片托上以測量靠近鏡片的邊緣的點的時候,使得鏡片托到達鏡架支撐板的接觸面的后方,邊緣位于鏡架支撐板側上,眼鏡架的邊框與鏡架支撐板接觸;墊板,邊框將與墊板接觸以防止邊框到達截除部,墊板被設置在截除部的至少一部分中;以及墊板移動機構,移動墊板以使得墊板的表面自接觸面沿向后方向移動;
本發明的進一步的改善在從屬權利要求中給出。
發明效果
根據本發明,即使對于設置在具有窄的垂直寬度的漸進式透鏡的近視區,也可以精確地進行測量。
附圖說明
圖1是本發明的實施例中焦度計的外觀示意圖;
圖2是本發明的焦度計的光學系統以及控制系統的構造示意圖;
圖3是鏡架支撐部件的分解圖;
圖4A是在墊板的移動被限制的狀態下,鏡片托、鏡架支撐部件和鏡片保持部的局部側視圖;以及
圖4B是在墊板的移動的限制被釋放的狀態下,鏡片托、鏡架支撐部件和鏡片保持部的局部側視圖;
參考符號
4鏡片托
5鏡架支撐部件
7鏡片保持部
10光學系統
20運算控制單元
51接觸部
53開口部
60墊板單元
61墊板
63部件
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社尼德克,未經株式會社尼德克許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110295669.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





