[發(fā)明專利]光學(xué)式檢測裝置、電子設(shè)備及光學(xué)式檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110293787.1
• 申請日: 2011-09-26
• 公開（公告）號: CN102467300A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 清瀨攝內(nèi)
• 申請（專利權(quán)）人: 精工愛普生株式會(huì)社
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李偉;王軼

1.一種光學(xué)式檢測裝置，其特征在于，具備：

照射部，照射照射光；

第一及第二受光部，接受被對象物反射后的所述照射光的反射光；以及

運(yùn)算部，基于所述第一及第二受光部中至少一方的受光結(jié)果，運(yùn)算所述對象物的位置信息；

所述第一及第二受光部接受從沿著面狀區(qū)域的方向入射的所述反射光，所述第二受光部與所述面狀區(qū)域的距離比所述第一受光部與所述面狀區(qū)域的距離短。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)式檢測裝置，其特征在于，

所述照射部在與所述面狀區(qū)域交叉的交叉方向，被配置在所述第一受光部與所述第二受光部之間。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)式檢測裝置，其特征在于，

所述第一及第二受光部包括：接受所述反射光的受光元件；和限制所述反射光向所述受光元件入射的方向的入射光限制部。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的光學(xué)式檢測裝置，其特征在于，

所述照射部在朝向所述面狀區(qū)域的俯視時(shí)，以放射狀照射強(qiáng)度根據(jù)照射方向而不同的所述照射光；

所述運(yùn)算部基于所述第一及第二受光部中至少一方的受光結(jié)果，運(yùn)算所述對象物相對于所述照射部所處的方向。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)式檢測裝置，其特征在于，

所述照射部包括：第一光源部，在光強(qiáng)度分布形成區(qū)域形成第一照射光強(qiáng)度分布；以及第二光源部，在所述光強(qiáng)度分布形成區(qū)域形成強(qiáng)度分布與所述第一照射強(qiáng)度分布不同的第二照射光強(qiáng)度分布；

所述第一照射光強(qiáng)度分布是照射光的強(qiáng)度隨著從所述光強(qiáng)度分布形成區(qū)域的一端側(cè)朝向另一端側(cè)而變?nèi)醯膹?qiáng)度分布，所述第二照射光強(qiáng)度分布是照射光的強(qiáng)度隨著從所述光強(qiáng)度分布形成區(qū)域的所述另一端側(cè)朝向所述一端側(cè)而變?nèi)醯膹?qiáng)度分布。

6.一種電子設(shè)備，其特征在于，具備權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的光學(xué)式檢測裝置。

7.一種光學(xué)式檢測方法，其特征在于，用于檢測對象物的位置信息，包括如下步驟：

向沿著面狀區(qū)域且被相互對置的第一及第二面夾持的第一區(qū)域照射照射光；

向位于所述第一區(qū)域與所述面狀區(qū)域之間，沿著所述面狀區(qū)域并被相互對置的第三及第四面夾持的第二區(qū)域照射照射光；

利用所述第一及第二區(qū)域中至少一方的區(qū)域來接受被所述對象物反射的所述照射光的反射光；以及

基于所述反射光的受光結(jié)果，運(yùn)算所述對象物的位置信息。