[發(fā)明專利]電源測試系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110293216.8 | 申請日: | 2011-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN103033768A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 朱鴻儒 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/40 | 分類號: | G01R31/40;G01R19/165 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電源 測試 系統(tǒng) | ||
1.一種電源測試系統(tǒng),其包括參考電壓模塊、比較模塊及顯示模塊;該比較模塊包括一測試電壓輸入端用于輸入被測電壓;該參考電壓模塊根據(jù)該被測電壓的額定值生成相對應的第一參考電壓與第二參考電壓,并將該第一參考電壓與該第二參考電壓輸出至該比較模塊;該比較模塊包括一使能信號輸出端,該比較模塊將該被測電壓與該第一、第二參考電壓作比較,并經(jīng)該使能信號輸出端輸出不同的使能信號至該顯示模塊;該顯示模塊用于顯示表征該被測電壓是否符合標準。
2.如權利要求1所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該比較模塊將該被測電壓與該第一、第二參考電壓作比較,當該被測電壓處于該第一、第二參考電壓的范圍內時,即被測電壓值在第一、第二參考電壓之間,該比較模塊經(jīng)該使能信號輸出端輸出第一使能信號至該顯示模塊,該顯示模塊顯示該被測電壓符合標準;當該被測電壓不屬于該第一、第二參考電壓的范圍內時,該比較模塊經(jīng)該使能信號輸出端輸出第二使能信號至該顯示模塊,該顯示模塊顯示該被測電壓不符合標準。
3.如權利要求1所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該第一參考電壓為被測電壓額定值的上限電壓;該第二參考電壓為被測電壓額定值的下限電壓。
4.如權利要求1所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該參考電壓模塊包括一雙電壓比較器芯片、第一可調電阻、第二可調電阻及電容;該雙電壓比較器芯片的第一同相輸入引腳、第二同相輸入引腳輸入一標準參考電壓;該雙電壓比較器芯片的第一反相輸入引腳連接第一可調電阻,該雙電壓比較器芯片的第一輸出引腳輸出該第一參考電壓;該雙電壓比較器芯片的第二反相輸入引腳連接該第二可調電阻,該雙電壓比較器芯片的第二輸出引腳輸出該第二參考電壓。
5.如權利要求4所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該雙電壓比較器芯片集成兩個運算放大器。
6.如權利要求2所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該比較模塊包括另一雙電壓比較器芯片、另一電容、一電阻及一開關晶體管;該另一雙電壓比較器芯片的第一同相輸入引腳及第二反向輸入端連接至該測試電壓輸入引腳同時輸入被測電壓,該另一雙電壓比較器芯片的第一反相輸入引腳輸入該第一參考電壓,該雙電壓比較器芯片的第二同相輸入引腳輸入該第二參考電壓,該另一雙電壓比較器芯片的第一輸出引腳經(jīng)該電阻與一外部電源連接并經(jīng)該另一電容接地,同時該另一雙電壓比較器芯片的第一輸出引腳連接至另一雙電壓比較器芯片的第二輸出引腳并連接該使能信號輸出端;該雙電壓比較器芯片的第二輸出引腳還經(jīng)該電阻與該電源連接。
7.如權利要求2所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該顯示模塊包括一綠色發(fā)光二極管、一紅色發(fā)光二極管及一晶體管,其中該綠色發(fā)光二極管的陽極與一外部電源相連,該綠色發(fā)光二極管的陰極與該使能信號輸出端相連;該紅色發(fā)光二極管的陽極與該外部電源相連,該紅色發(fā)光二極管的陰極與該晶體管的第一導通端相連,該第一晶體管的第二導通端接地,該晶體管的控制端連接該使能信號輸出端。
8.如權利要求6所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該第一開關晶體管為一N型場效應晶體管,其中該第一開關晶體管的控制端、第一導通端及第二導通端分別對應于N型場效應晶體管的柵極、源極與漏極。
9.如權利要求1所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該電源測試系統(tǒng)還包括一電壓模塊,該測試電壓輸入端與該電壓模塊相連;該電壓模塊用于將被測電壓極性反轉與衰減處理,并將處理后的被測電壓輸出至該比較模塊。
10.如權利要求9所述的電源測試系統(tǒng),其特征在于:該電壓模塊包括一運算放大器、二電阻及電容;該運算放大器的正相輸入端接地;該運算放大器的反相輸入端經(jīng)第一電阻連接該測試電壓輸入端,該運算放大器的反相輸入端經(jīng)該第二電阻與該運算放大器的輸出端相連,該運算放大器的輸出端輸出經(jīng)處理后的被測電壓至該比較模塊。
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