[發明專利]用于操作具有至少一個探針的測量裝置的方法,該探針具有至少一個離子選擇性電極

有效

• 申請號: 201110291597.6
• 申請日: 2011-09-26
• 公開（公告）號: CN102445476A
• 公開（公告）日: 2012-05-09
• 發明（設計）人: 斯特凡·維爾克;安杰·哈爾比格;丹尼爾·伊滕;岡特·雅爾
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾測量及調節技術分析儀表兩合公司
• 主分類號: G01N27/28
• 分類號: G01N27/28;G01N27/333;G01N27/49
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

1.一種用于操作具有至少一個探針(3)的測量裝置(1)的方法，所述探針具有至少一個離子選擇性電極(2)，并且所述探針被配備用于輸出取決于液體(20)中被測離子的濃度的測量信號，其中基于校準函數，所述測量裝置(1)被配備用于表示來自于由所述探針(3)輸出的所述測量信號的所述被測離子的濃度的測量值，

其中，所述方法包括如下步驟：

-提供所述液體的第一樣品；

-利用標準加入法確定更新的校準函數，其中所述第一樣品用標準溶液補充至少一次，所述標準溶液具有已知濃度的所述被測離子；

-基于所述更新的校準函數，確定所述第一樣品中的所述被測離子的濃度的測量值，作為表觀被測離子濃度(C_表觀)；

-提供所述液體的第二樣品，其中所述第二樣品的組成與所述第一樣品的組成對應；

-利用參考方法，確定所述第二樣品中的所述被測離子的濃度的測量值，作為參考被測離子濃度(C_參考)；

-確定所述表觀被測離子濃度(C_表觀)與所述參考被測離子濃度(C_參考)之間的差(C_干擾)，并由此導出修正值(C_修正)，用于所述液體中所述被測離子的濃度的未來測量值，如利用所述測量裝置(1)所確定的。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，在利用所述標準溶液對所述第一樣品的每一次補充之后，記錄表示經補充的第一樣品中所述被測離子的濃度的探針測量信號(3)。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中利用所述標準加入法確定更新的校準函數可至少包括如下步驟：

-用第一預定量的所述標準溶液補充所述第一樣品；

-記錄探針測量信號(3)，所述探針測量信號表示經補充的第一樣品中的所述被測離子的濃度；

-可選擇地，重新用額外預定量的所述標準溶液補充所述第一樣品一次或多次，并記錄探針測量信號(3)，所述探針測量信號表示每個經重新補充的第一樣品中所述被測離子的濃度；

-確定預定的校準函數的至少一個參數，尤其是確定校準線的至少零點。

4.根據權利要求1至3中的一項所述的方法，其中所述參考方法是光度計法或光譜法或化學分析法，所述化學分析法尤其包括滴定法或重量分析測定法。

5.根據權利要求1至4中的一項所述的方法，其中所述測量裝置(1)用于監測在過程容器中——尤其是管或大桶中——收集的液體(20)；以及，其中從所述過程容器中移出一定量的液體以提供所述第一樣品和所述第二樣品，其中所述第一樣品和所述第二樣品均取自所移出量的液體。

6.根據權利要求1至5中的一項所述的方法，其中將所述修正值(C_修正)設定為等于所述表觀被測離子濃度(C_表觀)與所述參考被測離子濃度(C_參考)之間的差(C_干擾)。

7.根據權利要求1至5中的一項所述的方法，其中將所述修正值(C_修正)設定為小于所述表觀被測離子濃度(C_表觀)與所述參考被測離子濃度(C_參考)之間的差(C_干擾)。

8.根據權利要求1至7中的一項所述的方法，其中所述測量裝置(1)包括具有數據處理系統(6)的控制單元(4)、顯示單元(7)和輸入單元(8)，所述顯示單元尤其是用于顯示在所述控制單元中處理的數據，所述輸入單元(8)用于向所述控制單元輸入命令；

其中，基于儲存在所述數據處理系統的存儲器中的計算機程序由所述數據處理系統(6)執行更新所述校準函數的步驟；以及其中，所更新的校準函數儲存在所述數據處理系統(6)的存儲器中，使得所述更新的校準函數可用以利用所述測量裝置確定未來測量值。

9.根據權利要求1至8中的一項所述的方法，其中基于儲存在所述數據處理系統的存儲器中的計算機程序，通過所述數據處理系統(6)來確定所述表觀被測離子濃度(C_表觀)與所述參考被測離子濃度(C_參考)之間的差(C_干擾)，并經由所述顯示單元(7)而輸出。