[發明專利]多路掃描測試控制裝置

無效

• 申請號: 201110283196.6
• 申請日: 2011-09-22
• 公開（公告）號: CN102435880A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 曾航
• 申請（專利權）人: 蘇州慧捷自動化科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/073
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責任公司 32102
• 代理人: 王玉國;陳忠輝

技術領域

?本發明涉及一種多路掃描測試控制裝置，用于壓敏、PTC、NTC、瓷介電容等芯片的電性能測試分技術領域。

背景技術

現有測試元件是接一組探針，且對每個元件測試，但是每次只測一個元件。每測試完成一次元件后，測試探針需要運動一次，接著在對下一個元件進行測試，導致測試元件速度比較慢。

發明內容

本發明的目的是克服現有技術存在的不足，提供一種多路掃描測試控制裝置。

本發明的目的通過以下技術方案來實現：

多路掃描測試控制裝置，包括電阻測試儀裝置、RS232通訊裝置以及多路測試探針裝置，所述RS232通訊裝置的輸出端與電阻測試儀裝置的輸入端相連，其特征在于：所述多路測試探針裝置的各測試探針中的一端相互連接，所述各測試探針相互連接的一端與電阻測試儀裝置的輸出端相連，所述各測試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置的輸出端相連，所述多路測試探針裝置的輸出端與測試元件相連，所述電阻測試儀裝置的輸出端與多路繼電器輸出裝置的輸入端相連，所述多路繼電器輸出裝置的輸入端與多路數字量I/O裝置的輸出端相連。

進一步地，上述的多路掃描測試控制裝置，其中，多路數字量I/O裝置和RS232通訊裝置的輸入端與電源相連。

本發明技術方案的實質性特點和進步主要體現在：

本發明通過在電阻測試儀裝置和多路測試探針裝置之間連接有多路繼電器輸出裝置，使其測試元件的速度得到較快的提高，且保證了測試元件的精確性。

附圖說明

圖1：本發明的連接示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，多路掃描測試控制裝置，包括電阻測試儀裝置3、RS232通訊裝置2，以及多路測試探針裝置5，?RS232通訊裝置2的輸出端與電阻測試儀裝置3的輸入端相連，多路測試探針裝置5的各測試探針中的一端相互連接，各測試探針相互連接的一端與電阻測試儀裝置3的輸出端相連，各測試探針的另一輸入端與多路繼電器輸出裝置4的輸出端相連，多路測試探針裝置5的輸出端與測試元件6相連，電阻測試儀裝置3的輸出端與多路繼電器輸出裝置4的輸入端相連，多路繼電器輸出裝置4的輸入端與多路數字量I/O裝置1的輸出端相連。

其中多路數字量I/O裝置1和RS232通訊裝置2的輸入端與電源相連。

其中裝置上安裝有另一相同的多路掃描測試控制裝置，此裝置能保證在測試完第一次后，利用相同的裝置再次對測試元件6進行測試，保證測試得出的數據更加精確。

具體應用時，裝置啟動后，首先RS232通訊裝置2通過電阻測試儀裝置3使得多路測試探針裝置5下降與測試元件6相接觸，相接觸后多路測試探針裝置5停止，此時多路數字量I/O裝置1啟動，多路數字量I/O裝置1控制多路繼電器輸出裝置4開啟，致使多路測試探針裝置5的一測試探針與測試元件6中的一元件相通，再通過多路繼電器輸出裝置4和電阻測試儀裝置3將元件的大小測試出來，接著通過程序關斷多路繼電器輸出裝置4開通的通路，然后再通過程序再開啟另一多路繼電器輸出裝置4與其對應的元件通路并測得元件數值的大小，直至元件測試完成。其中測得元件的大小保存至電阻測試裝置3中，再與其相同裝置再一次測試后通過軟件對比，保證測得的元件數值更加精確。

綜上所述，通過安裝在電阻測試儀裝置和多路測試探針裝置之間的多路繼電器輸出裝置，控制多路繼電器輸出裝置中與多路測試探針裝置相通和關閉，提高了測試元件的速度，并且提高了生產效率。

需要強調的是：以上僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明作任何形式上的限制，凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發明技術方案的范圍內。