[發明專利]一種晶硅太陽能電池及其制備方法在審
| 申請號: | 201110282971.6 | 申請日: | 2011-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN103022163A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 郭冉;譚偉華;周勇 | 申請(專利權)人: | 比亞迪股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0224 | 分類號: | H01L31/0224;H01L31/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518118 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種晶硅太陽能電池,其特征在于,所述晶硅太陽能電池從下至上依次包括背面電極、鋁背場、P型硅襯底、N型硅層、Ti-Si金屬間化合物層、減反射層和正面電極,所述P型硅襯底與N型硅層之間形成有P-N結,正面電極滲透過所述減反射層與Ti-Si金屬間化合物層接觸。
2.根據權利要求1所述的晶硅太陽能電池,其特征在于,所述Ti-Si金屬間化合物層的圖案在所述晶硅太陽能電池的法線方向與正面電極的圖案重合。
3.根據權利要求1所述的晶硅太陽能電池,其特征在于,Ti-Si金屬間化合物層的厚度為0.01-0.08μm。
4.根據權利要求1所述的晶硅太陽能電池,其特征在于,所述減反射層為氮化硅層,減反射層的厚度為70-90nm。
5.權利要求1所述的晶硅太陽能電池的制備方法,包括以下步驟:
A、對P型硅襯底表面進行制絨、擴散和去磷硅玻璃,在P型硅襯底表面形成N型硅層,P型硅襯底與N型硅層的交界面形成P-N結;
B、在N型硅層表面形成金屬Ti層,然后進行熱處理,在N型硅層表面形成Ti-Si金屬間化合物層;
C、在Ti-Si金屬間化合物層表面進行等離子增強型化學氣相沉積,形成減反射層;
D、在減反射層表面印刷正面電極,在P型硅襯底表面印刷鋁背場和背面電極,燒結后正面電極滲透過所述減反射層與Ti-Si金屬間化合物層接觸。
6.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在N型硅層表面形成金屬Ti層的方法為物理氣相沉積、印刷、噴涂或噴墨打印。
7.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,還包括:在N型硅層表面形成金屬Ti層之前,在N型硅層表面采用光刻膠制備掩膜的步驟。
8.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,熱處理的溫度為650-850℃,時間為3-12s。
9.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,正面電極的印刷區域與Ti-Si金屬間化合物層的圖案在所述正面電極的法線方向重合。
10.根據權利要求5所述的制備方法,其特征在于,燒結的最高溫度為700-780℃,最高溫度下的燒結時間為3-8s。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





