[發明專利]雙路型切變應力測定方法及裝置

有效

• 申請號: 201110280838.7
• 申請日: 2006-09-27
• 公開（公告）號: CN102374967A
• 公開（公告）日: 2012-03-14
• 發明（設計）人: 栗原和枝;佐久間博;水上雅史
• 申請（專利權）人: 獨立行政法人科學技術振興機構
• 主分類號: G01N19/00
• 分類號: G01N19/00;G01N11/00;G01L5/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 吳麗麗

1.一種雙路型切變應力測定方法，其特征在于，在該雙路型切變應力測定方法中，組合將激光光照射到安裝在試樣的下部表面保持體的底面的反射鏡，根據來自所述反射鏡的反射光的相位變化來對所述試樣的表面間距離位移進行測定的雙路表面間距離測定方法和根據共振曲線來對所述試樣的粘彈性以及摩擦·潤滑特性進行測定的測定法，對試樣的切變應力進行測定。

2.一種雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，該雙路型切變應力測定裝置具有：

(a)精密切變裝置，使試樣的上部表面保持體沿著水平方向位移；

(b)位移計，對所述試樣的上部表面保持體的向水平方向的位移進行檢測；

(c)由板簧構成的所述試樣的下部表面固定單元，在前端保持所述試樣的下部表面保持體且具有在所述下部表面保持體的底面配置的反射鏡；

(d)驅動裝置，驅動該下部表面固定單元來對所述試樣的下部表面保持體沿著上下進行驅動；和

(e)雙路表面間距離測定單元，向所述反射鏡照射激光光，根據來自所述反射鏡的反射光的相位變化對所述試樣的上部表面和所述試樣的下部表面間的距離進行測定，其中，

(f)對所述試樣的上部表面和所述試樣的下部表面間的每個距離的所述試樣的粘彈性以及摩擦·潤滑特性進行測定。

3.根據權利要求2所述的雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，根據所述試樣的共振曲線來對所述試樣的粘彈性以及摩擦·潤滑特性進行測定。

4.根據權利要求2或3所述雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，所述試樣為透明試樣或不透明試樣。

5.根據權利要求2或3所述的雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，所述試樣為液體薄膜。

6.根據權利要求2或3所述的雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，所述試樣為液晶薄膜。

7.根據權利要求2或3所述的雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，所述試樣為高分子·表面活性劑等吸附層、化學修飾膜。

8.根據權利要求2或3所述的雙路型切變應力測定裝置，其特征在于，所述試樣的上部表面保持體以及下部表面保持體中的一方或兩方為不透明基板。