[發明專利]一種大型筒柱狀工件尺寸和幾何誤差測量方法有效
| 申請號: | 201110280622.0 | 申請日: | 2011-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN102435156A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
| 發明(設計)人: | 李明;趙幸福;梁爽;楊恢;徐洋;張明;金志祥;李偉;林政;朱海良 | 申請(專利權)人: | 上海大學 |
| 主分類號: | G01B21/00 | 分類號: | G01B21/00 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
| 地址: | 200444 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 大型 柱狀 工件 尺寸 幾何 誤差 測量方法 | ||
1.一種大型筒柱狀工件尺寸和幾何誤差測量方法,其特征在于:通過間接測量的方法,獲取工件被測要素的特征點;采用齊次坐標變換的方法,通過坐標平移,將獲取的特征點統一變換到測量坐標系;采用最小二乘特征擬合算法,由特征點構造出被測要素的擬合要素,對工件尺寸和幾何誤差進行測量,其步驟如下:
1)通過間接測量的方法,獲取工件被測要素的特征點:設計檢測工裝,在檢測工裝上設置測量靶標,使測量儀器獲取工件整體尺寸如工件的內外徑、同軸度等被測要素的特征點;在檢測工裝上安裝傳感器,使測量儀器獲取工件局部尺寸如工件端面傾斜、壁厚等被測要素的特征點;使用傳感器獲取被測要素特征點在檢測工裝輔助坐標系下的坐標值;測量儀器通過對靶標測量獲取靶標在測量坐標系下的坐標值;測量靶標使檢測工裝輔助坐標系與測量坐標系相關聯;
2)靶標在檢測工裝輔助坐標系下的坐標值可以在安裝前由更高精度的測量設備通過標定給出,給出參數;傳感器獲取的相關被測要素特征點在檢測工裝輔助坐標系下的坐標值也可以在安裝前,通過系統標定確定尺寸和位置參數;采用坐標變換,將獲取的相關被測要素的特征點統一到測量坐標系;
3)通過提取的被測要素特征點,擬合出被測要素的特征,通過坐標測量的方法,對工件尺寸和幾何誤差進行檢測。
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