[發(fā)明專利]小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110279343.2
• 申請(qǐng)日: 2011-09-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103020328A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉斌;陳俊融;季春霖;劉若鵬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳光啟高等理工研究院;深圳光啟創(chuàng)新技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/50
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/50;H01Q1/38
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，包括步驟：

依據(jù)小天線的設(shè)計(jì)需求預(yù)設(shè)小天線的特征參數(shù)的取值范圍；

在預(yù)設(shè)的特征參數(shù)取值范圍內(nèi)選取多個(gè)采樣點(diǎn)，得到特征參數(shù)樣本集；

根據(jù)優(yōu)化指標(biāo)預(yù)設(shè)合適的適應(yīng)度函數(shù)；

采用最優(yōu)化算法在所述特征參數(shù)取值范圍內(nèi)搜索最優(yōu)特征參數(shù)值，使得所述適應(yīng)度函數(shù)值最大。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述小天線包括基板和附設(shè)于基板上的金屬線。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述特征參數(shù)包括介電常數(shù)、金屬線線寬、基板厚度。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述金屬線為銅線、鋁線或銀線。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述優(yōu)化指標(biāo)包括電磁響應(yīng)特性。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述電磁響應(yīng)特性包括散射參數(shù)，所述散射參數(shù)包括傳輸系數(shù)、反射系數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述最優(yōu)化算法為粒子群優(yōu)化算法。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述最優(yōu)化算法為遺傳算法或模擬退火算法。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，采用最優(yōu)化算法在所述特征參數(shù)取值范圍內(nèi)搜索最優(yōu)特征參數(shù)值，使得所述適應(yīng)度函數(shù)值最大，具體包括步驟：

計(jì)算每一特征參數(shù)樣本對(duì)應(yīng)的適應(yīng)度函數(shù)值，得到適應(yīng)度函數(shù)值最大的特征參數(shù)樣本；

依據(jù)每一特征參數(shù)樣本及其對(duì)應(yīng)的適應(yīng)度函數(shù)值產(chǎn)生新的特征參數(shù)樣本集，所述新的特征參數(shù)樣本集包含在預(yù)設(shè)的特征參數(shù)取值范圍內(nèi)；

檢測(cè)是否滿足迭代結(jié)束條件，若是，則結(jié)束搜索；若否，則繼續(xù)迭代搜索，直至滿足迭代結(jié)束條件。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的小天線優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述迭代結(jié)束條件為達(dá)到預(yù)設(shè)搜索次數(shù)。