[發明專利]一種密度尺測量計算超喂的方法

有效

• 申請號: 201110277078.4
• 申請日: 2011-09-19
• 公開（公告）號: CN102435762A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 殷金華
• 申請（專利權）人: 江蘇金辰針紡織有限公司
• 主分類號: G01P3/00
• 分類號: G01P3/00
• 代理公司: 蘇州廣正知識產權代理有限公司 32234
• 代理人: 張利強

1.一種密度尺測量計算超喂的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）先洗一塊坯布，在無外力影響下用密度尺測量其橫向每英寸線圈個數和經向每英寸線圈個數，作為臨界值，稱得洗后坯布的重量；

2）接著根據胚布洗后的密度門幅克重和成品布要求的門幅克重，運用公式計算超喂：

a=（CPI×（1-（1-G1/G×（1-（1-?WPI×π×d×n?/?WPI1×π×d1×n1）×100%））×100%）/CPI1-1）×100%，

式中：?????

a：超喂，

CPI：洗后坯布的經向每英寸線圈個數，

G1：需定型的針織物的客戶要求重量，

G：洗后坯布的重量，

WPI：洗后坯布的橫向每英寸線圈個數，

d：洗后坯布織造的織機直徑，

n：每英寸內針數，

WPI1：需定型的針織物的橫向每英寸線圈個數，

d1：需定型的針織物織造的織機直徑，

n1：需定型的針織物織造的每英寸內針數，

CPI1：需定型的針織物的經向每英寸線圈個數。

2.根據權利要求1所述的一種密度尺測量計算超喂的方法，其特征在于，所述用密度尺測量橫向每英寸線圈個數的具體方法為：當織物處于放松無外力狀態下時，手持密度尺，將密度尺放在針織物上，對著光線慢慢移動密度尺，使密度尺上的線條和織物的緯線平行，即可反映出清晰的菱形，菱形尖角上下端所示的刻度差即為橫向每英寸線圈個數。

3.根據權利要求1所述的一種密度尺測量計算超喂的方法，其特征在于，所述用密度尺測量經向每英寸線圈個數的具體方法為：當織物處于放松無外力狀態下時，手持密度尺，將密度尺放在針織物上，對著光線慢慢移動密度尺，使密度尺上的線條和織物的經線平行，即可反映出清晰的菱形，菱形尖角上下端所示的刻度差即為橫經向每英寸線圈個數。