[發明專利]RMS和包絡檢測器

有效

• 申請號: 201110275214.6
• 申請日: 2011-09-16
• 公開（公告）號: CN102435835A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: Y.A.埃肯;S.托克馬克;A.塞利克
• 申請（專利權）人: 希泰特微波公司
• 主分類號: G01R21/00
• 分類號: G01R21/00;G01R19/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 馬永利;王洪斌

1.一種功率檢測器，包括：

對數RMS檢測器，其接收RF輸入信號并檢測所述RF輸入信號的平均功率電平；以及

線性包絡檢測器，其也接收所述RF輸入信號并檢測所述RF輸入信號的電壓包絡；

其中，所述對數RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個封裝中。

2.根據權利要求1所述的功率檢測器，其中，所述RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個管芯上。

3.一種檢測RF輸入信號的功率的方法，包括以下步驟：

使用對數RMS檢測器來檢測RF輸入信號的平均功率電平；

使用線性包絡檢測器來檢測所述RF輸入信號的電壓包絡；

其中，所述對數RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個封裝中。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個管芯上。

5.一種功率檢測器，包括：

對數RMS檢測器，其接收RF輸入信號并檢測所述RF輸入信號的平均功率電平；

增益或衰減元件，其也接收所述RF輸入信號并產生所述RF輸入信號的放大或衰減型式；以及

線性包絡檢測器，其用于接收所述RF輸入信號的放大或衰減型式并檢測所述RF輸入信號的電壓包絡，其中，所述增益或衰減元件能夠產生所述RF輸入信號的所選放大或衰減型式，以將包絡檢測器的操作范圍移位至更高或更低功率電平。

6.根據權利要求5所述的功率檢測器，其中，所述對數RMS檢測器、包絡檢測器以及增益或衰減元件集成在單個封裝中。

7.根據權利要求5所述的功率檢測器，其中，所述RMS檢測器、包絡檢測器以及增益或衰減元件集成在單個管芯上。

8.一種檢測RF輸入信號的功率的方法，包括以下步驟：

使用對數RMS檢測器來檢測RF輸入信號的平均功率電平；

產生所述RF輸入信號的放大或衰減型式；以及

使用所述RF輸入信號的放大或衰減型式來檢測所述RF輸入信號的電壓包絡，其中，所述RF輸入信號的放大或衰減型式被選擇性地產生以將包絡檢測器的操作范圍移位至更高或更低功率電平。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，使用增益或衰減元件來產生所述RF輸入信號的放大或衰減型式，以及其中使用線性包絡檢測器來檢測所述RF輸入信號的電壓包絡。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，所述對數RMS檢測器、包絡檢測器以及增益或衰減元件集成在單個封裝中。

11.根據權利要求9所述的方法，其中，所述對數RMS檢測器、包絡檢測器以及增益或衰減元件集成在單個管芯上。

12.一種功率檢測器，包括：

對數RMS檢測器，其接收RF輸入信號并檢測所述RF輸入信號的平均功率電平，所述對數RMS檢測器包括漸進地放大或衰減所述RF輸入信號的一系列增益或衰減級，所述對數RMS檢測器還包括多個均方檢測器，所述均方檢測器的至少一些是利用來自該系列增益或衰減級的RF輸入信號的放大或衰減型式而被驅動的；以及

線性包絡檢測器，其用于檢測所述RF輸入信號的電壓包絡，所述包絡檢測器選擇性地耦合至RF輸入以接收所述RF輸入信號，或者耦合至RMS檢測器的該系列增益或衰減級的多個增益或衰減抽頭的其中之一以接收用于對包絡檢測器的操作范圍進行移位的所述RF輸入信號的放大或衰減型式。

13.根據權利要求12所述的功率檢測器，其中，所述對數RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個封裝中。

14.根據權利要求12所述的功率檢測器，其中，所述對數RMS檢測器和包絡檢測器集成在單個管芯上。