[發明專利]測量液晶空間光調制器gamma曲線的方法及系統

有效

• 申請號: 201110273039.7
• 申請日: 2011-09-15
• 公開（公告）號: CN102566095A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發明（設計）人: 樊仲維;邱基斯;唐熊忻
• 申請（專利權）人: 北京國科世紀激光技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及光電測試技術領域，尤其涉及一種測量液晶空間光調制器gamma曲線的方法及系統。

背景技術

Gamma值是一個校正參數，反映儀器的自身屬性，對于液晶空間光調制器來說，每個像素上的gamma值可能不相同而且相互之間沒有規律，對應于輸入值，其輸出值只能以一種非線性的方式輸出，對于單個的液晶空間光調制器來說，由于其工作原理相同，其gamma曲線是固定的，對于不同的液晶空間光調制器，由于制作工藝的限制和材料的微小差別，各個液晶空間光調制器gamma曲線可能會不一樣，所以需要對每個液晶空間光調制器進行gamma曲線測量。

現有技術中測量液晶空間光調制器gamma曲線的方法是：

在液晶空間光調制器上寫入不同灰度值的圖片；

用能量計測量在寫入不同灰度值時的能量值；

對能量值做歸一化處理，即所有能量都除以能量最大的這個極值，繪制gamma曲線。

利用這種測量方法，在測量時需要在液晶空間光調制器里多次寫入不同灰度值的圖片，例如，從黑階到白階，灰度值從0-255總共有256個，如果以5個灰度值為間隔，就需要在液晶空間光調制器上寫入52個不同的灰度圖像，在52個不同灰度值下需要測量52次能量值，這種方法工作量大，要制作多個灰度值的圖像、多次測量能量值，而且對注入激光的穩定性要求極高，稍不穩定將帶來極大的誤差。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種能減少測量液晶空間光調制器gamma曲線的工作量，寫入一次圖像便能得到液晶空間光調制器的gamma曲線的方法及系統。

為了達到上述目的，本發明提出一種測量液晶空間光調制器gamma曲線的方法，該方法包括以下步驟：

在液晶空間光調制器里寫入圖像，圖像包括主顯示區和位于主顯示區域兩側的兩個輔助顯示區，主顯示區包含第一標準灰度信息，輔助顯示區包含第二標準灰度信息；

液晶空間光調制器過濾第二標準灰度信息并將第一標準灰度信息轉換為測試灰度信息并輸出到光電傳感器；

對光電傳感器獲取的測試灰度信息進行歸一化處理，利用歸一化結果繪制gamma曲線

優先的，所述第一標準灰度信息和所述第二標準灰度信息都包含多個標準灰度值，所述第一標準灰度信息所包含的標準灰度值的個數多于所述第二標準灰度值信息所包含的標準灰度值的個數。

優先的，所述圖像的標準灰度值包含在一個256*n的二維矩陣中，每行灰度值以0-255順序連續遞增，其中，n為自然數。

優先的，所述對測試灰度信息進行歸一化處理，利用歸一化后的結果繪制gamma曲線的步驟包括：

確定與所述測試灰度信息中的每個測試灰度值對應的標準灰度值；

將測試灰度值除以對應的標準灰度值，將其結果作為縱坐標，將標準灰度值作為橫坐標建立坐標系，繪制gamma曲線。

優先的，所述確定與所述測試灰度值對應的標準灰度值的具體步驟為：

確定寫入液晶空間光調制器的標準灰度值的最大值X；

確定光電傳感器接收的測試灰度值的個數Y，所述測試灰度值的個數Y等于光電傳感器接收的第一個非零的測試灰度值至最后一個非零的測試灰度值的個數加1；

根據X和Y計算標準灰度值之間的間隔值Z，Z＝X/(Y-1)；

根據間隔值Z計算對應于測試灰度值的標準灰度值An，An＝Z*m，m為大于等于0且小于Y的整數。

本發明還提供了一種測量液晶空間光調制器gamma曲線的系統，包括沿光路依序設置的光源、液晶空間光調制器和光電傳感器，所述光源輸出光束經過所述液晶空間光調制器進入所述光電傳感器，所述光電傳感器用于接收液晶空間光調制器輸出的測試灰度信息。

優先的，所述系統的液晶空間光調制器與光源之間設有擴大光束直徑的擴束鏡，所述光電傳感器與液晶空間光調制器之間設有用于會聚光束的凸透鏡。

優先的，所述液晶空間光調制器與光源之間設置有前偏振片，所述系統的光電傳感器與液晶空間光調制器之間設置有后偏振片。

優先的，所述液晶空間光調制器與所述前偏振片之間設置有前半波片，所述液晶空間光調制器與所述后偏振片之間設置有后半波片，所述光源與所述前偏振片之間設置有衰減片和外半波片，外半波片位于衰減片與前偏振片之間。

優先的，所述光電傳感器為電荷耦合元件CCD。