[發(fā)明專利]電子元器件高速測試分選設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110272643.8 | 申請日： | 2011-09-14 |
| 公開（公告）號： | CN102357473A | 公開（公告）日： | 2012-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 林琳;繆來虎;卓維煌;李靖鵬;聶晶;曾慶略 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市華騰半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 |
| 主分類號： | B07C5/36 | 分類號： | B07C5/36;G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518055 廣東省深圳市南*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電子元器件 高速 測試 分選 設(shè)備 | ||
1.一種電子元器件高速測試分選設(shè)備，其包括：
接受電子元器件的吸嘴和轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)盤采用臥式布局，其軸線與水平 方向平行，吸嘴垂直分布于轉(zhuǎn)盤邊緣，吸嘴的軸向方向與轉(zhuǎn)盤的軸向 方向相垂直；
測試基座，用于放置測試用的探針機構(gòu)，在其上測定出元器件所吸 收的波長和光強，并對電子器件的電子特性進(jìn)行測定。
2.權(quán)利要求1所述電子元器件高速測試分選設(shè)備，其中所述分選設(shè) 備還包括驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)盤驅(qū)動電機。
3.權(quán)利要求1所述電子元器件高速測試分選設(shè)備，其中所述分選設(shè) 備還包括分料延長軟管，其位于所述測試基板的下部，軟管的另一端連接 至收料筒。
4.權(quán)利要求1所述電子元器件高速測試分選設(shè)備，其中所述吸嘴呈 放射式徑向均勻分布于轉(zhuǎn)盤邊緣。
5.權(quán)利要求1所述電子元器件高速測試分選設(shè)備，其中所述驅(qū)動電 機為伺服電機或者步進(jìn)電機。
6.權(quán)利要求1所述電子元器件高速測試分選設(shè)備，其測試用的探針 機構(gòu)也可以放置于水平放置的基板上。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市華騰半導(dǎo)體設(shè)備有限公司，未經(jīng)深圳市華騰半導(dǎo)體設(shè)備有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110272643.8/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
