[發明專利]成像系統及配準圖像的方法有效
| 申請號: | 201110271998.5 | 申請日: | 2011-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN102442055A | 公開(公告)日: | 2012-05-09 |
| 發明(設計)人: | 約安內斯·N·M·德容;勞埃德·A·威廉姆斯 | 申請(專利權)人: | 施樂公司 |
| 主分類號: | B41F33/00 | 分類號: | B41F33/00 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 李獻忠 |
| 地址: | 美國康*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 成像 系統 圖像 方法 | ||
1.成像系統,其包括:
圖像接收表面,其沿順流的方向移動;
第一標記站,其將第一圖像施加到所述圖像接收表面;
第二標記站,其位于所述第一標記站的下游,其將第二圖像施加到所述圖像接收表面;
位于標記區段的起始處的第一位置的第一檢測設備,其輸出與所述移動的圖像接收表面有關的速度檢測信息;
位于所述標記區段的末端的第二位置的第二檢測設備,其輸出與在所述第一和第二位置之間的介質接收表面中的張力增加有關的張力檢測信息;
控制系統,其與所述第一和第二標記站信息聯通,所述控制系統被配置用于根據由所述第一和第二檢測設備提供的信息測定所述第一和第二標記站中的至少一個的改變的啟動時間。
2.根據權利要求1所述的成像系統,進一步包括用于在所述第一和第二標記站之間移動所述圖像接收表面的驅動構件,并且其中所述第二檢測設備與所述驅動構件連接。
3.根據權利要求1所述的成像系統,其中所述第一檢測設備是在所述第一和第二標記站的上游,而所述第二檢測設備是在所述第一和第二標記站的下游。
4.根據權利要求1所述的成像系統,其中所述第一檢測設備選自編碼器和激光多普勒表面檢測設備。
5.根據權利要求4所述的成像系統,其中所述第二檢測設備根據以下方程式基于阻力(F)計算所述圖像接收表面位移(Y):
Y=0.5*(F/E)*x2/a;其中,
F等于施加的阻力,
E等于所述圖像接收表面的彈性模量,
a等于在所述標記站的所述末端的位置,以及,
x等于到所述第一位置的距離。
6.成像系統,其包括:
圖像接收表面,其沿順流的方向移動;
第一標記站,其將第一圖像施加到所述圖像接收表面;
第二標記站,其位于所述第一標記站的下游,其將第二圖像施加到所述圖像接收表面;
位于第一位置的第一檢測設備,其輸出與移動的所述圖像接收表面有關的速度檢測信息;
位于第二位置的第二檢測設備,其輸出與在所述第一和第二位置之間的介質接收表面中的張力增加有關的張力檢測信息;
控制系統,其與所述第一和第二標記站信息聯通,所述控制系統被配置用于根據由所述第一和第二檢測設備提供的信息測定所述第一和第二標記站中的至少一個的改變的啟動時間;以及
與第二輥連接的所述第二檢測設備,其包括
伺服電動機,從而所述伺服電動機在所述第二位置提供轉矩以控制在所述第一位置的所述速度。
7.配準圖像的方法,其包括:
移動圖像接收表面;
在第一和第二間隔的圖像施加位置將圖像施加到所述圖像接收表面;
在從所述第一和第二圖像施加位置向上游間隔的第一監控位置監控所述圖像接收表面的速度;
在從所述第一和第二圖像施加位置向下游間隔的第二監控位置監控所述圖像接收表面內的張力;以及,
根據監控的速度和在所述圖像接收表面內的張力來控制所述第一和第二圖像的施加中的至少一個的計時。
8.根據權利要求7所述的方法,其中所述張力的監控包括檢測與圖像接收表面位移相對應的在所述圖像接收表面上的阻力。
9.根據權利要求8所述的方法,其中在所述第一監控位置和所述第二監控位置之間應用處理方向力曲線。
10.根據權利要求8所述的方法,其中歸因于所述阻力(F)的所述圖像接收表面位移(Y)可按如下進行計算:
Y=0.5*(F/E)*x2/a;其中,
F等于施加的阻力,
E等于所述圖像接收表面的彈性模量,
a等于在所述標記站的區段或板的末端的位置,以及,
x等于到所述第一位置的距離。
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