[發明專利]一種單個非球面透鏡像差校正的方法無效
| 申請號: | 201110268994.1 | 申請日: | 2011-09-13 |
| 公開(公告)號: | CN102313989A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發明(設計)人: | 秦華;張偉元;孫存志;宋延松 | 申請(專利權)人: | 山東理工大學 |
| 主分類號: | G02B27/00 | 分類號: | G02B27/00;G06N3/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 255049 山東省淄博*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 單個 球面 透鏡 校正 方法 | ||
1.一種單個非球面透鏡的設計方法,尤其是一種利用粒子群算法進行非球面透鏡像差校正的方法,其特征在于包括下述步驟:
(1)?將被優化的每個非球面光學系統結構參數看作一個粒子(Particle),粒子位置矢量維數和速度矢量維數D由系統結構參數變量決定;
(2)?確定非球面高次方程(1)中的C、a2、a4、a6、a8、a10、a12、a14、a16和鏡面之間的距離d為系統結構參數;
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其中x為曲面的彎曲量,為光線的入射高度,C為非球面頂點的曲率,為高次非球面系數,是與二次曲面的離心率有關的常數;
(3)?粒子的初始位置Xi=?(xi1,?xi2,…,?xi10)和初始速度?Vi?=(υi1,υi2,…υi10)?的生成;???
(4)?適應度函數,即被優化的函數的確定;
(5)?尋找每一粒子到目前為止自身所經歷的歷史最佳位置Pi?=(pi1,?pi2,…piD),?也稱為Pbest;尋找所有微粒經歷的歷史最佳位置Gbest;
(6)?每一粒子之速度與位置更新方式的確定?;
(7)?程序循環迭代停止條件的設定為迭代次數1000~5000次或者適應度函數小于0.001;
表1
表2
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表3
(8)?運用本發明方法得到的單個非球面透鏡結構參數數據,其包含在表1、表2和表3中。
2.??根據權利要求1的一種單個非球面透鏡的設計方法,其特征在于所述步驟(3)包括下述步驟:
(a)選擇非球面頂點的曲率半徑r>hmax(hmax為入射光線的最大入射高),C?=1/?r,鏡面之間的距離d設定在1/3*hmax與4/3*hmax之間,?選取,至的取值在至附近;
(b)Xi=?(xi1,?xi2,…,?xi10)=(C,d1,),Xi的搜索范圍如權利要求書2中(a)所述,Xi的初始位置為在其搜索范圍內的一均勻分布的隨機數;??
(c)取υiNmax=?xiNmax-?xiNmin,N為1到10之間整數,υiNmin=-υiNmax,初始速度Vi?=(υi1,υi2,…υi10)?在υiNmax和-υiNmax之間隨機生成。
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