[發明專利]無線電干擾測量裝置的整體校準方法

無效

• 申請號: 201110268910.4
• 申請日: 2011-09-13
• 公開（公告）號: CN102419428A
• 公開（公告）日: 2012-04-18
• 發明（設計）人: 張澤平;李妮;張廣洲;路遙
• 申請（專利權）人: 國網電力科學研究院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 潘杰

1.一種無線電干擾測量裝置的整體校準方法，其方法是：首先從無線電計量基標準溯源，通過分體校準并結合標準接收天線和標準無線電干擾接收機的不確定度，確定無線電場強儀的測量不確定度，建立無線電干擾測量裝置的標準裝置，進而通過比較法或替代法進行整體校準，

其具體步驟是：

第一步驟：無線電干擾測量裝置的量值從無線電計量基標準溯源，把作為實驗室標準保存的天線，包括測量長波和中波的環狀天線和桿狀天線，測量短波的桿狀天線、對稱振子天線和測量超短波的偶極子天線送無線電標準實驗室檢定，確定天線的傳輸系數和阻抗；

第二步驟：同時把作為實驗室標準保存的接收機、頻譜分析儀、標準信號發生器、標準衰減器、數字電壓表送無線電標準實驗室檢定，確定這些標準儀器的刻度因數和測量準確度；

第三步驟：通過分體校準并結合標準接收天線和標準無線電干擾接收機的不確定度，確定無線電場強儀的測量不確定度，在此基礎上建立無線電干擾測量裝置的標準裝置；

第四步驟：通過比較法或替代法，把標準射頻場強測量裝置的接收天線和被校無線電干擾測量系統的接收天線置入校準用射頻電磁場，比較它們的測量示值后得到被校干擾儀的測量誤差，從而完成對天線及無線電干擾接收機組成的無線電干擾測量裝置的整體校準。

2.如權利要求1所述的無線電干擾測量裝置的整體校準方法，其特征在于：所述第四步驟中

遠區場無線電干擾測量儀的150kHz～30MHz頻段使用在全電波暗室中的磁場線圈產生的磁場和桿狀天線產生的電場校準；比較法使用類型相同的天線，即發射源天線、標準場強儀與被校干擾儀使用的天線同為環狀天線或桿狀天線；標準場強儀的誤差經過計量學方法通過天線與接收機的誤差綜合得到并經過整體校準；

遠區場無線電干擾測量儀的30MHz～300MHz頻段的校準方法也是通過與標準場強儀的比較得到被校干擾儀的誤差；校準工作可在全電波暗室按5米法進行，用雙錐天線產生電磁波；無線電干擾測量系統的接收天線可以是環狀、桿狀或對稱振子天線；

遠區場無線電干擾場強儀的校準，先對天線和接收機組成的裝置按遠區場測量儀進行整體校準，然后對接收機部分進行頻率響應和時間常數試驗；校準時使用脈沖響應校準器，用以測量接收機的干擾脈沖響應。