[發明專利]測試卡無效
| 申請號: | 201110267037.7 | 申請日: | 2011-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN103000229A | 公開(公告)日: | 2013-03-27 |
| 發明(設計)人: | 楊富森;白云;童松林 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 | ||
1.一種測試卡,用于輔助測試內存儲器的兩組電壓,該輔助測試卡包括:
一板邊連接器,該板邊連接器與待測內存儲器的插槽相匹配,該板邊連接器包括第一及第二電壓金手指,當該輔助測試卡插入該待測試內存儲器插槽時,該第一電壓金手指對應與該待測內存儲器插槽的第一電壓引腳相連,該第二電壓金手指對應與該待測內存儲器插槽的第二電壓引腳相連;
至少一接口,用于連接負載器;以及
一開關單元,包括第一至第三端,該開關單元的第一端與該接口相連,該開關單元的第二和第三端分別連接該第一和第二電壓金手指,該開關單元用于選擇性地使該接口連接該第一或第二電壓金手指。
2.如權利要求1所述的測試卡,其特征在于:該開關單元為一雙擲開關,該開關單元的第一至第三端分別對應為該雙擲開關的動端、第一不動端和第二不動端。
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