[發(fā)明專利]絕緣電阻的測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110267023.5
• 申請日: 2011-09-09
• 公開（公告）號: CN102998529A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈永兵;戴友俊;余榮軍
• 申請（專利權(quán)）人: 上海神飛能源科技有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 胡美強(qiáng);王婧荷

1.一種絕緣電阻測試方法，其特征在于，所述絕緣電阻測試方法利用一第一開關(guān)、一第二開關(guān)以及一電阻，其中所述第一開關(guān)與一正極直流母線連接，所述第二開關(guān)與一負(fù)極直流母線連接，并且所述第一開關(guān)與第二開關(guān)連接于一第一端；所述正極直流母線與所述負(fù)極直流母線連接于一第二端，所述電阻串接于所述第一端與第二端之間，其中所述絕緣電阻測試方法包括以下步驟：

S₁₀₁所述第一開關(guān)和第二開關(guān)均開路，檢測所述正極直流母線與負(fù)極直流母線之間的第一電壓；

S₁₀₂所述第一開關(guān)開路，所述第二開關(guān)閉合，然后檢測所述第二端的一對地電壓；

S₁₀₃所述第一開關(guān)閉合，所述第二開關(guān)開路，然后檢測所述第二端的另一對地電壓；

S₁₀₄根據(jù)所述第一電壓以及所述一對地電壓和另一對地電壓計算所述正極直流母線和負(fù)極直流母線的絕緣電阻。

2.如權(quán)利要求1所述的絕緣電阻測試方法，其特征在于，所述步驟S₁₀₄中還包括以下步驟：

S₁₀₄₁、根據(jù)下式計算所述正極直流母線的絕緣電阻：

R+=Va2-Va1Va1R]]>

其中R+為所述正極直流母線的絕緣電阻的阻值；V_a1為所述第一開關(guān)開路并且所述第二開關(guān)閉合時，所述第二端的一對地電壓值；所述V_a2為所述第二開關(guān)開路并且所述第一開關(guān)閉合時，所述第二端的另一對地電壓值；所述R為所述電阻的阻值。

3.如權(quán)利要求2所述的絕緣電阻測試方法，其特征在于，所述步驟S₁₀₄中還包括以下步驟：

S₁₀₄₂、根據(jù)下式計算所述負(fù)極直流母線的絕緣電阻：

R-=Va2-Va1VB-Va2R]]>

其中R-為所述負(fù)極直流母線的絕緣電阻的阻值；V_a1為所述第一開關(guān)開路并且所述第二開關(guān)閉合時，所述第二端的一對地電壓值；所述V_a2為所述第二開關(guān)開路并且所述第一開關(guān)閉合時，所述第二端的另一對地電壓值；所述R為所述電阻的阻值，所述V_B為所述正極直流母線與所述負(fù)極直流母線之間的第一電壓值。