[發明專利]具有包含多個天線單元的串聯饋電陣列天線的雷達裝置無效
| 申請號: | 201110265729.8 | 申請日: | 2011-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN102385053A | 公開(公告)日: | 2012-03-21 |
| 發明(設計)人: | 中林健人;片山哲也;松沢晉一郎;小川勝 | 申請(專利權)人: | 株式會社電裝 |
| 主分類號: | G01S13/00 | 分類號: | G01S13/00;G01S7/40;G01S7/28 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 張立達;王英 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 包含 天線 單元 串聯 饋電 陣列 雷達 裝置 | ||
1.一種形成串聯饋電陣列天線的雷達裝置,包括:
陣列天線,其具有發射天線和接收天線,每個天線包含排成陣列的多個天線單元并具有電連接在其間的饋線,其中,所述發射天線從在各個天線單元之間具有相互不同的饋電相位的所述各個天線單元輻射信號,以產生雷達波束;
校準線,其連接在所述發射天線的所述饋線處的連接點和所述接收天線的所述饋線處的連接點之間;
開關,其連接在所述發射天線和所述接收天線之間以連接或斷開其間的所述校準線,當所述開關連接所述校準線時,具有相位偏移的所述信號經由所述校準線傳輸;
計算模塊,其用于基于所述發射天線處的參考相位從經由所述校準線傳輸的所述信號計算相位偏移量;以及
校準模塊,其用于校準由所述計算模塊計算的所述相位偏移,其中,
所述校準線是連接在所述連接點之間的,以在從所述發射天線中的所述饋線上的饋電點到所述發射天線中的所述饋線上的所述連接點的信號路徑中和從所述接收天線中的所述饋線處的所述連接點到所述接收天線中的所述饋線處的饋電點的信號路徑中包含至少一個天線單元。
2.根據權利要求1所述的雷達裝置,其中,所述開關被置于所述發射天線處的所述校準線的連接端和所述接收天線處的所述校準線的連接端處。
3.根據權利要求1或2所述的雷達裝置,其中,所述雷達裝置包含:用于基于由所述計算模塊計算的所述相位偏移量來估計所述天線單元處的相位偏移的估計模塊;以及,用于檢測所述雷達波束的方向偏移的檢測模塊。
4.根據權利要求1或2所述的雷達裝置,其中,所述雷達裝置包含壓控振蕩器,所述壓控振蕩器改變所述信號的頻率,并且所述校準模塊被配置為將由所述計算模塊計算的所述相位偏移轉換成頻率偏移并且由所述壓控振蕩器來控制由所述發射天線發射的所述信號的所述頻率,以執行所述校準。
5.根據權利要求1或2所述的雷達裝置,其中,所述發射天線和所述接收天線由相控陣列天線進行配置,其中,移相器被布置在所述天線單元之間,并且所述雷達裝置包含:用于基于由所述計算模塊計算的所述相位偏移量來估計所述天線單元處的所述饋電的相位偏移的估計模塊;以及,通過改變所述移相器的相位偏移量來校準所述饋電的所述相位偏移的所述校準模塊。
6.根據權利要求5所述的雷達裝置,其中,所述移相器是由以下中的至少一個來配置的:半導體設備、MEMS、鐵電材料和液晶材料。
7.根據權利要求1或2所述的雷達裝置,其中,所述發射天線和所述接收天線的所述饋線是由微帶線、三板線、共面線和波導管中的至少一個來配置的。
8.根據權利要求1或2所述的雷達裝置,其中,在所述發射天線和所述接收天線中使用的所述天線單元是由貼片天線或隙縫天線或偶極子天線來配置的。
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