[發(fā)明專利]一種準(zhǔn)單晶硅片的制絨方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110265315.5 | 申請日: | 2011-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN102306681A | 公開(公告)日: | 2012-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金若鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江向日葵光能科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 紹興市越興專利事務(wù)所 33220 | 代理人: | 張謙 |
| 地址: | 312071 浙江省紹興市袍江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 單晶硅 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽能電池的生產(chǎn)技術(shù)方法領(lǐng)域,具體涉及一種準(zhǔn)單晶硅片的制絨方法。
背景技術(shù)
制絨是制備具有減少光線反射的硅片表面處理方法,將表面織構(gòu)化,利用表面的陷光作用提高光線的吸收利用,是制造高效太陽能電池必不可少的工序。
在硅太陽能電池的制作工藝中,單晶硅片一般采用各項(xiàng)異性的堿制絨法在硅片表面形成金字塔絨面,使得入射光線多次反射,大大的提高了光線的吸收,達(dá)到提高轉(zhuǎn)換效率的目的。堿制絨方法工藝成本地,適用于單晶硅片的大規(guī)模量產(chǎn)。
多晶硅片存在大量的晶界和缺陷,相比單晶硅片轉(zhuǎn)換效率要低1.5-2%,但多晶硅片相比單晶硅片具有明顯的成本優(yōu)勢,近年來在太陽能電池市場中占據(jù)的比例越來越大。多晶硅片因?yàn)楦骶Я5娜∠虿灰唬瑹o法采用堿制絨方法,生產(chǎn)中一般使用酸制絨工藝,在表面形成一定的腐蝕坑絨面,能起到較好的織構(gòu)化效果。
單晶硅和多晶硅存在明顯的優(yōu)勢和劣勢,用多晶鑄錠方法生產(chǎn)的準(zhǔn)單晶技術(shù)是一種能將單晶、多晶優(yōu)勢結(jié)合的方法。目前已開始陸續(xù)量產(chǎn)準(zhǔn)單晶硅片。目前量產(chǎn)的準(zhǔn)單晶硅片,主體有(100)晶面構(gòu)成,同時(shí)有部分其他隨機(jī)生長晶向的晶粒。
對于這種類型的硅片,如果單純使用酸制絨無法很好發(fā)揮大晶粒的優(yōu)勢;而如果單純的采用堿制絨,無法滿足商業(yè)化生產(chǎn)組件的外觀要求。目前結(jié)合酸堿制絨工藝已有報(bào)道的方法為采用先進(jìn)行酸制絨工藝再進(jìn)行堿制絨工藝,該工藝方法在實(shí)際生產(chǎn)中可控性要求較高,硅片表面容易部分發(fā)亮,經(jīng)過PECVD鍍膜后有明顯的外觀色差,封裝后的準(zhǔn)單晶組件外觀與目前的多晶組件外觀顏色差別較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種準(zhǔn)單晶硅片的制絨方法,結(jié)合酸堿制絨的工藝優(yōu)點(diǎn),工藝過程簡單可控,制絨效果后,電池轉(zhuǎn)換效率高,封裝成組件后外觀合格、符合組件銷售的外觀要求。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種準(zhǔn)單晶硅片的制絨方法,包括先對以(100)晶粒為主的準(zhǔn)單晶硅片采用堿制絨工序,再采用酸制絨工序。其中,(100)晶粒即晶粒直徑為100nm。
作為上述方案進(jìn)一步設(shè)置,所述堿制絨工序中,所選用的堿溶液為NaOH(氫氧化鈉)或KOH(氫氧化鉀)溶液,其質(zhì)量分?jǐn)?shù)為1%-3%。
所述堿溶液中異丙醇的體積分?jǐn)?shù)為3%-15%。
所述堿溶液制絨時(shí)的溫度為70℃-85℃。
所述堿制絨工序后的準(zhǔn)單晶硅片的腐蝕深度為1μm?-10μm。
所述酸制絨工序中,所選用的酸溶液為HF(氫氟酸)和HNO3(硝酸)混合酸溶液,體積分?jǐn)?shù)為60%-80%。
所述HF和HNO3混合酸溶液中,HF和HNO3之間的體積比為1:2-4。
所述酸溶液制絨時(shí)的溫度為3℃-10℃。
所述先經(jīng)過堿制絨工序、后經(jīng)過酸制絨工序后的準(zhǔn)單晶硅片的腐蝕深度為2μm?-20μm。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):結(jié)合堿制絨和酸制絨的工藝優(yōu)點(diǎn),制絨后光線利用率高,反射率低,外觀色差小。先采用了堿制絨在原先的(100)晶粒上形成較好的金字塔絨面,但非(100)晶粒則為拋光面,兩者之間絨面外觀差異較大;再采用酸制絨工藝來平衡該外觀差異,對(100)晶粒上形成的金字塔進(jìn)行少量的腐蝕,但整體仍然保持堿制絨工藝的高光線利用率、低反射率的特征,對非(100)晶粒堿制絨后的拋光面則用酸溶液形成腐蝕坑,與常規(guī)的多晶酸制絨后絨面的反射率一致。采用堿制絨后再算制絨,硅片外觀一致性好。先酸制絨再堿制絨的工藝,因?yàn)樗嶂平q后的堿制絨過程對非(100)晶粒的拋光作用,導(dǎo)致外觀色差較大,而采用本發(fā)明則有效的避免了制絨后準(zhǔn)單晶硅片的外掛色差較大的缺點(diǎn)。采用本發(fā)明的準(zhǔn)單晶制絨工藝過程簡單可控,可根據(jù)(100)晶粒的大小匹配調(diào)整堿制絨和酸制絨的的腐蝕深度,在保證合適外觀的前提下,得到最優(yōu)的光線利用率。采用本發(fā)明制作的準(zhǔn)單晶電池片封裝成組件后外觀與常規(guī)多晶組件外觀一致,有效的滿足組件商業(yè)銷售的外觀要求。
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具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
實(shí)施例1
實(shí)驗(yàn)所采用的硅片為156×156的P型準(zhǔn)單晶電池硅片,(100)晶粒面積占整個(gè)硅片面積≥50%。
堿制絨:選擇KOH溶液,質(zhì)量分?jǐn)?shù)為1.5%,在堿溶液中,添加異丙醇,體積分?jǐn)?shù)為5%,另外添加時(shí)創(chuàng)S929-B制絨添加劑,體積分?jǐn)?shù)為0.5%;溶液溫度為78℃,控制制絨時(shí)間使得硅片單面腐蝕深度為3.5μm?-4μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





