[發明專利]四探針測試儀暗箱

有效

• 申請號: 201110264977.0
• 申請日: 2011-09-08
• 公開（公告）號: CN102998484A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 趙春慶;蔣劍波;莫毓東;吳國運
• 申請（專利權）人: 昊誠光電（太倉）有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛;趙艷

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技術領域

本發明涉及四探針測試儀暗箱。

背景技術

四探針探測儀被廣泛應用于太陽能電池片領域，用于測量薄膜材料的方塊電阻，它利用四根等間距的探針扎在被測的薄膜材料樣品的表面，由一個恒流源給外側的兩根探針提供一個小的電流，然后測量中間兩根探針之間的電壓，就可以求出被測薄膜材料樣品的方塊電阻，四探針探測儀對外部環境的要求比較高，空氣中的灰塵、光照、外界震動等因素都會對測量結果產生影響，現有的四探針探測儀，自身直接暴露在空氣中，受以上的外部因素的影響較大，因此在不同條件下測出的方塊電阻值會略有差異，測量的精確性受到影響。

發明內容

本發明的目的是提供可降低外部環境對四探針測試儀的影響，提高四探針測試儀的測量精確性的四探針測試儀暗箱。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案是：四探針測試儀暗箱，所述暗箱具有腔室、開設在所述暗箱側上部的開口，所述腔室通過所述開口與外部相連通，在所述開口上設置可開合的手動控制門，在所述手動控制門上設置窗口，沿由外向內的方向在所述窗口的內側壁上依次設置可封住所述窗口的透光密封層、可用于安裝濾光片的濾光片卡槽、可用于安裝擋板的擋板卡槽，所述暗箱具有暗態、加光、濾光三種狀態，當所述暗箱處于暗態狀態時，所述擋板安裝在所述擋板卡槽內，當所述暗箱處于加光狀態時，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，當所述暗箱處于濾光狀態時，所述擋板、所述擋板卡槽相分離，所述濾光片安裝在所述濾光片卡槽內。

優選地，所述手動控制門與水平面呈45度角設置，在所述手動控制門背面的周向方向的邊緣設置密封減震材料。

優選地，設置減震材料，所述減震材料貼設在所述腔室的內壁、所述手動控制門的背面上。

由于上述技術方案的運用，本發明與現有技術相比具有下列優點：設置四探針測試儀暗箱，暗箱具有可容納四探針測試儀的腔室，在腔室的內壁上貼設減震材料，可以降低外部震動對測試儀的測量結果的影響，測量結果精確，暗箱的側上部具有開口，在開口上設置可開合的手動控制門，手動控制門與水平面呈45度角，在手動控制門上設置可使光線穿過的窗口，由外向內一次在窗口的內壁上設置可透過光線的透光密封層、可安裝濾光片的濾光片卡槽、可安裝擋板的擋板卡槽，濾光片、擋板都可以根據不同的需求安裝或拆卸，這樣暗箱內就可以具有暗態、加光、濾光三種狀態的測試條件，進一步提高了四探針測試儀的測量精確性。

?附圖說明

附圖1為本發明的主視剖視示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖來進一步闡述本發明的結構。

參見圖1所示，暗箱具有腔室1，四探針測試儀設置在腔室1中，在暗箱的側壁與頂部連接處開設開口，在開口上設置可開合的手動控制門2，手動控制門2通過自身的側部可轉動得連接在暗箱外壁上，手動控制門2轉動打開時，開口露出，腔室1通過開口與外部相連通，手動控制門2轉動閉合時，開口被封堵住，手動控制門2與水平面呈45度角設置，在手動控制門2上開設可連通腔室1與外部的窗口，在窗口的內側壁上由外向內依次設置透光密封層4、濾光片卡槽9、擋板卡槽10，最外層的透光密封層4可采用石英玻璃制成，光線透過透光密封層4呈45度角照射到待測的薄膜材料上時，暗箱處于加光狀態，透光密封層4還可以防止灰塵落入腔室1中，當需要在暗態狀態下測量薄膜材料的方塊電阻時，則打開手動控制門2，將擋板6安裝在擋板卡槽10中后關閉手動控制門2，此時，光線被遮擋，暗箱處于暗態狀態，當需要測量特定波長的光線照射下的薄膜材料的方塊電阻時，打開手動控制門2，取出擋板6，將可以濾掉其它波長的光的濾光片5安裝在濾光片卡槽9中，光線在經過濾光片5后，只余下特定波長的光照射在待測的薄膜材料上，此時暗箱處于濾光狀態。

在圖1中，在手動控制門2的背面的邊緣設置密封減震材料8，密封減震材料8可以是橡膠墊，在減震的同時起到了更好的密封作用，在腔室1的內壁、手動控制門2的背面上貼設減震材料7，減震材料7可以是海綿，有效減少了外界震動及聲音對測量結果的影響，待測的薄膜材料處于減震的環境中，再根據測量需要使薄膜材料處于暗態條件、加光條件或不同波長的光照射的條件下，這樣測得的方塊電阻結果較為精確。