[發明專利]電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法及其置件方法

無效

• 申請號: 201110264476.2
• 申請日: 2011-08-31
• 公開（公告）號: CN102967605A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 費耀祺
• 申請（專利權）人: 鴻騏新技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01B11/02
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 馮志云;呂俊清

1.一種電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，包含以下步驟：

提供至少一電路板，其由多個子板所組成，其中該電路板上與所述多個子板上分別具有定位標靶；

提供一檢知裝置，該檢知裝置至少包括一高精度的滑移模塊、一滑動地架設于該滑移模塊的圖像擷取單元以及一運算單元，并利用該圖像擷取單元擷取該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像；以及

利用該運算單元分析該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像，以根據該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶計算每一該子板與該電路板在X軸、Y軸及角度的相對偏移量(X，Y，Θ)，且所述多個偏移量的精度小于±10μm。

2.如權利要求1所述的電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，在提供一檢知裝置的步驟中，該圖像擷取單元為線性掃瞄器。

3.如權利要求1所述的電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，該滑移模塊具有一滑軌及一耦接于該圖像擷取單元的解碼器，該滑軌的真直性經激光干涉儀校準及軟件補正，其精度為在300mm長度下偏移量不超過1um，該解碼器計算該圖像擷取單元在該滑軌上所移動的距離。

4.如權利要求1所述的電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，在利用該運算單元分析該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像的步驟中，是利用該電路板的定位標靶的位置計算該電路板的中心點坐標，且利用每一該子板的定位標靶的位置計算每一該子板的中心點坐標，以計算出每一該子板與該電路板的相對偏移量。

5.如權利要求1所述的電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，在利用該運算單元分析該電路板的圖像的步驟之前還包括一設定每一該子板的尺寸的步驟。

6.如權利要求5所述的電路板的標記檢知及偏移量檢知的方法，其特征在于，在利用該運算單元分析該電路板的圖像的步驟中，該運算單元定義一檢知區域對應于該電路板的圖像。

7.一種置件方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供至少一電路板，其由多個子板所組成，其中該電路板上與所述多個子板上分別具有定位標靶；

提供一檢知裝置，該檢知裝置至少包括一高精度的滑移模塊、一滑動地架設于該滑移模塊的圖像擷取單元以及一運算單元，并利用該圖像擷取單元擷取該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像；以及

利用該運算單元分析該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像，以根據該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶計算每一該子板與該電路板的相對偏移量；以及

提供一獨立于該檢知裝置的元件著裝機臺，該元件著裝機臺設置于該檢知裝置的下游，且該元件著裝機臺根據每一該子板的偏移量進行補正及根據補正的結果在每一該子板上進行一置件步驟。

8.如權利要求7所述的置件方法，其特征在于，在提供一獨立于該檢知裝置的元件著裝機臺的步驟中，該元件著裝機臺先分析該電路板上的定位標靶，以得知每一該子板與該電路板的相對偏移量，接著根據該每一該子板的偏移量將該電路板的每一該子板的偏移加以補正，再進行該置件步驟。

9.如權利要求7所述的置件方法，其特征在于，在提供一檢知裝置的步驟中，該圖像擷取單元為線性掃瞄器。

10.如權利要求7所述的置件方法，其特征在于，該滑移模塊具有一滑軌及一耦接于該圖像擷取單元的解碼器，該滑軌的真直性為在300mm長度下偏移量不超過1um，該解碼器計算該圖像擷取單元在該滑軌上所移動的距離。

11.如權利要求7所述的置件方法，其特征在于，在利用該運算單元分析該電路板上的定位標靶與所述多個子板上的定位標靶的圖像的步驟中，是利用該電路板的定位標靶的位置計算該電路板的中心點坐標，且利用每一該子板的定位標靶的位置計算每一該子板的中心點坐標，以計算出計算每一該子板與該電路板的相對偏移量。