[發明專利]一種基于雙端口SRAM的故障注入方法無效
| 申請號： | 201110261295.4 | 申請日： | 2011-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN102446559A | 公開（公告）日： | 2012-05-09 |
| 發明（設計）人： | 楊獻;王雷;蔣見花;劉海南;黑勇;周玉梅 | 申請（專利權）人： | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 周國城 |
| 地址： | 100029 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 端口 sram 故障 注入 方法 | ||
1.一種基于雙端口SRAM的故障注入方法，其特征在于，該方法包括：
在SRAM第一端口的編碼器后設置一個第一編碼選擇器(11)；
在第二端口的編碼器后設置一個第二編碼選擇器(12)；以及
在SRAM全局設置一個外部控制信號TEST施加到第一編碼選擇器(11)和第二編碼選擇器(12)上。
2.根據權利要求1所述的基于雙端口SRAM的故障注入方法，其特征在于，所述第一編碼選擇器(11)的輸入端分別連接第一編碼選擇器(11)和第二編碼選擇器(12)，其輸出端連接雙端口SRAM中存儲第一端口編碼的冗余單元。
3.根據權利要求1所述的基于雙端口SRAM的故障注入方法，其特征在于，所述第二編碼選擇器(12)的輸入端分別連接第二編碼選擇器(12)和第一編碼選擇器(11)，其輸出端連接雙端口SRAM中存儲第二端口編碼的冗余單元。
4.根據權利要求1所述的基于雙端口SRAM的故障注入方法，其特征在于，所述在SRAM全局設置一個外部控制信號TEST施加到第一編碼選擇器(11)和第二編碼選擇器(12)上，包括：
TEST信號同時控制第一編碼選擇器(11)和第二編碼選擇器(12)，當TEST信號為低時，第一編碼選擇器(11)選擇來自第一編碼選擇器(11)輸出的編碼，第二編碼選擇器(12)選擇來自第二編碼選擇器(12)輸出的編碼；當TEST信號為高時，第一編碼選擇器(11)選擇來自第二編碼選擇器(12)輸出的編碼，第二編碼選擇器(12)選擇來自第一編碼選擇器(11)輸出的編碼。
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