[發明專利]一種激光束加工處理中的晶圓片對準方法有效
| 申請號: | 201110261070.9 | 申請日: | 2011-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN102280400A | 公開(公告)日: | 2011-12-14 |
| 發明(設計)人: | 嚴利人;周衛;劉朋;竇維治 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68;H01L21/268 |
| 代理公司: | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246 | 代理人: | 史雙元 |
| 地址: | 100084 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 激光束 加工 處理 中的 晶圓片 對準 方法 | ||
1.一種激光束加工處理中的晶圓片對準方法,其特征在于,進行晶圓片的對準包括兩個階段:
在第一階段,采用由多軸移動片臺和光學探測部件構成通用的晶圓片對準機構(3),對晶圓片進行對準,晶圓片先從片盒(2)處通過通道(4),由機械手放置在對準機構(3)的多軸移動臺上,在對準機構(3)處,先是通過晶圓片的缺口或者定位平邊,進行晶圓片的粗定位,粗對準,然后再通過晶圓片上的特定的圖形,特別是劃片道部分的圖形,確定芯片陣列的中心坐標,以及與多軸移動臺的橫向移動軸之間的夾角,通過旋轉多軸移動臺,令晶圓片上芯片陣列的橫向劃片道與多軸臺橫向移動方向平行;
在第二個階段,使用精密定位和控制的機械手,將已經進行過精對準的晶圓片,從對準機構(3)處,沿通道(5)放置到激光加工工藝腔(1)內部的工藝片臺之上;其中送片傳片的機械手為精密定位的裝置,在傳遞和放置的過程中所引入的額外誤差在小于±5微米范圍,相對于劃片道幾十微米的寬度來說,最終所實現的總的定位精度在小于±10微米范圍是可以接受的。
2.根據權利要求1所述激光束加工處理中的晶圓片對準方法,其特征在于,所述晶圓片從對準機構放置到工藝片臺上之后,需要進行輔助性加熱,此時可進行工藝實驗,測量并定出特定溫度下的膨脹系數有效值,在準確估計尺寸膨脹效應后,將相關信息反饋至片臺移動的控制系統,由控制系統進行補償后,再執行片臺的掃描或者步進掃描移動,具體做法為,針對熱膨脹后晶圓片尺寸變化的信息,有意地調節掃描速度和掃描位置,以使掃描行準確落在預期的晶圓片位置,使得實際發生的掃描適合于變化后的晶圓片尺寸。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





