[發明專利]一種磁盤數據庫性能測試方法

無效

• 申請號: 201110259787.X
• 申請日: 2011-09-05
• 公開（公告）號: CN102306193A
• 公開（公告）日: 2012-01-04
• 發明（設計）人: 任華進;陳彬
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30;G06F11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

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技術領域

本發明涉及一種計算機數據庫技術,?具體地說是一種磁盤數據庫性能測試方法。

背景技術

用戶反饋機器配置磁盤性能差，不能滿足數據庫實際運行的需要，一般遇到這種情況，我們需要重新對用戶硬盤性能和數據庫性能進行相應測試，沒有提前的磁盤對數據庫支持情況的相關報告和標準。

發明內容

本發明的目的是提供一種磁盤數據庫性能測試方法

本發明的目的是按以下方式實現的，模擬用戶數據庫應用，使用iometer工具和數據庫連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取的腳本，測試磁盤在不用數據塊執行時的磁盤性能和數據庫腳本執行時間，從而基本掌握磁盤對數據庫的支持能力，既方便用戶依此數據進行相應的數據庫調用，又方便客戶依據實際需求換用不同的磁盤系統的磁盤數據庫性能測試方法；包括如下內容：

1）測試步驟:

1）分別以4k/8k/16k/32k/64k/128k數據塊為基準，對磁盤系統使用iometer工具測試相應數據塊連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取值；

2）安裝windows系統和sql?server?數據庫，并在測試磁盤上建立空表，以以上相應數據塊大小執行連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取腳本進行1000條記錄的操作，記錄執行時間，以執行時間的長短判斷相應數據塊和相應庫操作的支持能力；

測試的效果

通過此測試方法，確定出被測試機器的磁盤性能及其和數據庫實際測試的相關性，如數據庫寫入時間長，同時測試發現相同數據塊寫入磁盤性能確實也低，即可確認磁盤性能不適合進行用戶此類數據庫應用的需求，需要更換新的磁盤控制器或對數據庫進行調用，選用更合適的數據塊大小。

具體實施方式

????本發明的磁盤數據庫性能測試方法,?是模擬用戶數據庫應用，使用iometer工具和數據庫連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取的腳本，測試磁盤在不用數據塊執行時的磁盤性能和數據庫腳本執行時間，從而基本掌握磁盤對數據庫的支持能力，既方便用戶依此數據進行相應的數據庫調用，又方便客戶依據實際需求換用不同的磁盤系統的磁盤數據庫性能測試方法；包括如下內容：

1）測試步驟:

1）分別以4k/8k/16k/32k/64k/128k數據塊為基準，對磁盤系統使用iometer工具測試相應數據塊連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取值；

2）安裝windows系統和sql?server?數據庫，并在測試磁盤上建立空表，以以上相應數據塊大小執行連續寫入、隨機寫入、連續讀取、隨機讀取腳本進行1000條記錄的操作，記錄執行時間，以執行時間的長短判斷相應數據塊和相應庫操作的支持能力；

2）測試的環境

操作系統：windows?2003

數據庫：sqlserver?2005

硬件：被測試的服務器硬件配置

電腦的工作時最適合的環境溫度是10～35?攝氏度，最適合的濕度為35%～80%，電腦應放在通風、干燥的地方；

3）測試數據及界定標準:

（1）測試數據標準

Iometer?測試值標準－連續寫入測試值：