[發明專利]記錄介質翹起檢測裝置和噴墨記錄裝置

有效

• 申請號: 201110258859.9
• 申請日: 2011-08-31
• 公開（公告）號: CN102431326A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 興梠裕;福井隆史
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: B41J29/46
• 分類號: B41J29/46
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

技術領域

本發明涉及記錄介質翹起檢測裝置和噴墨記錄裝置。具體而言，本發明涉及能夠防止錯誤地檢測記錄介質翹起的記錄介質翹起檢測裝置和噴墨記錄裝置。

背景技術

噴墨記錄裝置從噴墨頭噴射液滴，以便在經過預定傳送路徑傳送的諸如片材等記錄介質的記錄表面上記錄圖像。在該噴墨記錄裝置中，當所傳送的記錄介質翹離傳送表面時，噴墨頭的液滴噴射表面與記錄介質的記錄表面之間的距離(慢速距離)發生變化，從而降低了記錄質量水平，或者當記錄介質與噴墨頭的液滴噴射表面接觸時損壞液滴噴射表面。

因此，在傳送記錄介質的傳送路徑上設置有記錄介質翹起檢測裝置，以便當所檢測到的記錄介質的翹起至少到達預定值時停止傳送記錄介質。例如，日本專利申請公開No.2010-76872描述了一種記錄介質翹起檢測裝置，其設置有彼此面對的光發射部和光接收部，且記錄介質傳送路徑設置在光發射部與光接收部之間，其中光發射部在距離傳送表面的預定高度位置處向光接收部發射檢測光束，并且檢測是否接收到檢測光束。

然而，日本專利申請公開No.2010-76872的記錄介質翹起檢測裝置在記錄介質擋住檢測光束時基于光接收部所接收的光量變化來檢測記錄介質的翹起，并且即使記錄介質沒有翹起，也經常會錯誤地檢測為錄介質翹起。

本發明的發明人仔細研究之后發現，該錯誤檢測是由光接收部接收的光量發生變化而產生的。所接收的光量的這種變化是由以下事實造成的：設置在噴墨記錄裝置中的不同裝置產生溫度或濕度不同的空氣，或者密度不同的空氣，并且該密度不同的空氣流入檢測光束的光路內并且使檢測光束發生折射。

日本專利申請公開No.2008-126155描述了以下發明：用細長光軸蓋部件覆蓋光軸，以便消除由檢測光束因密度不同的空氣而發生折射進而使檢測光束的光路彎曲(稍后描述)時的該密度不同的空氣所帶來的影響。

然而，如日本專利申請公開No.2008-126155所述用細長光軸蓋部件覆蓋光軸的方法在記錄介質翹起時可能使記錄介質與光軸蓋部件接觸，從而損壞記錄介質。

此外，即使記錄介質翹起，光軸蓋部件也會阻礙記錄介質遮擋光路，從而不能檢測到記錄介質的翹起。另外，當根據記錄介質的厚度調整光軸的高度時，需要調整光軸蓋部件的高度，這是麻煩的。為了完成該任務，需要使用用于改變光軸蓋部件的高度的裝置。

發明內容

考慮到上述情況構想出本發明，并且本發明的目的是提供能夠防止自身錯誤操作的記錄介質翹起檢測裝置以及噴墨記錄裝置。

本發明的上述目的可以通過以下發明來實現。

為了達到上述目的，本發明的一方面提供一種記錄介質翹起檢測裝置，其用于檢測在預定傳送表面上沿預定傳送路徑傳送的記錄介質的翹起，所述記錄介質翹起檢測裝置包括：光發射接收裝置，其具有用于發射檢測光束的光發射單元和用于接收檢測光束的光接收單元，所述光發射單元和所述光接收單元設置成隔著所述傳送路徑彼此面對；光發射平行平板，其安裝在所述光發射單元與所述傳送路徑之間的所述檢測光束的光路上，以使所述檢測光束的光路平行地偏移；光發射旋轉裝置，其使所述光發射平行平板旋轉；控制裝置，其控制所述光發射旋轉裝置；以及記錄介質翹起檢測控制裝置，其監視由所述光接收單元接收的光量，并且當由所述光接收單元接收的光量等于或小于預定值時，停止傳送記錄介質，或者輸出警報，其中，所述光發射接收裝置以下述方式安裝：使所述檢測光束位于所述傳送表面上方的預定高度處，所述光發射平行平板具有彼此平行的光入射表面和光出射表面，并且構造成繞與所述檢測光束垂直的旋轉軸旋轉，以使從所述光入射表面進入的檢測光束發生折射，從而使所述檢測光束的光路朝遠離所述傳送表面的方向平行地偏移，并且所述檢測光束從所述光出射表面出射，所述光發射旋轉裝置與所述光發射平行平板的旋轉軸連接，并且所述控制裝置在預定定時控制所述光發射旋轉裝置，以使所述光發射平行平板旋轉，從而使所述檢測光束朝遠離所述傳送表面的方向平行地偏移。

根據本發明的該方面，即使當密度不同空氣進入時，由于所述檢測光束遠離所述傳送表面移動，因此所述檢測光束也不會受所述密度不同空氣的影響，從而消除錯誤檢測。