[發明專利]測試裝置

無效

• 申請號: 201110256764.3
• 申請日: 2011-09-01
• 公開（公告）號: CN102435939A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 橋本伸一
• 申請（專利權）人: 愛德萬測試株式會社
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/12
• 代理公司: 北京英特普羅知識產權代理有限公司 11015
• 代理人: 齊永紅

1.一種測試被測試器件的測試裝置，其特征在于，包括：

電源部，其向所述被測試器件提供電源電力；

比較部，其檢測出表示所述被測試器件的狀態的特性值，將所述特性值與預定的閾值進行比較；

阻斷部，其根據在所述比較部中的比較結果，阻斷從所述電源部向所述被測試器件提供的所述電源電力；以及

控制部，其改變在所述比較部中的閾值或檢測所述特性值的檢出時序中的至少一方。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：

所述控制部在所述電源部向所述被測試器件提供電源電力的狀態下，改變所述閾值或所述檢出時序的至少一方。

3.根據權利要求2所述的測試裝置，其特征在于：

所述比較部檢出多種的所述特性值，按所述特性值的種類與預定的所述閾值進行比較；

所述控制部還變更使用哪一種所述特性值的比較結果來使所述阻斷部阻斷所述電源電力的設定。

4.根據權利要求3所述的測試裝置，其特征在于：

所述控制部具有閾值存儲部，其對應所述特性值種類設置，存儲所對應的所述閾值，所述閾值能夠改寫。

5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于：

所述電源部向設置在所述被測試器件內的多個被測試元件并列地提供所述電源電力；

所述比較部將施加在所述多個被測試元件上的電壓或電流與所述閾值進行比較；

所述阻斷部停止向所有所述多個被測試元件提供所述電源電力。

6.根據權利要求1～5中任意一項所述的測試裝置，其特征在于：

所述阻斷部根據在所述比較部中檢出的特性值被判斷為超范圍時的所述閾值，來改變阻斷所述電源電力的速度。