[發明專利]一種CPU芯片上電復位電路抗擾性測試方法及裝置有效
| 申請號: | 201110255606.6 | 申請日: | 2011-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN102955083A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發明(設計)人: | 楊利華 | 申請(專利權)人: | 北京中電華大電子設計有限責任公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/28;G01R1/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100102 北京市朝陽*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cpu 芯片 復位 電路 抗擾性 測試 方法 裝置 | ||
1.一種對芯片上電復位電路抗干擾能力進行測試的方法,其特征在于:
在芯片循環進行熱復位動作時,對芯片的電源施加干擾脈沖波,干擾一段時間后,通過檢測芯片CPU跑飛標志數據,來判斷芯片上電復位電路抗干擾的能力。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于通過采用使VCC和GND瞬時短接的方式,產生隨機的干擾脈沖波。
3.一種對芯片上電復位電路抗干擾能力進行測試的裝置,其特征在于:包括異常上電波形發生裝置、被測芯片、與芯片通訊的上位設備;其中:
異常上電波形發生裝置產生干擾上電復位動作的隨機干擾脈沖波,將異常上電波形發生裝置產生的隨機干擾脈沖波信號接到被測芯片的VCC和GND上,將被測芯片的CLK、I-O、GND分別連接上與芯片通訊的上位設備的CLK、I-O、GND,使被測芯片不停循環熱復位,當進行上電復位動作時,如果出現跑飛,被測芯片進行計數;測試一段時間后,讀取被測芯片的跑飛計數數據,得到一段時間內上電復位異常跑飛的次數,進而得到被測芯片上電復位電路抗干擾的能力。
4.如權利要求3所述的裝置,其特征在于:所述異常上電波形發生裝置包括直流電機、指針、彈簧、擋板,其中:
以被測芯片的直流電源驅動直流電機,直流電機的輪上安裝指針,指針接被測芯片的VCC,指針上的彈簧接固定裝置,在指針的前方,設置擋板,擋板接GND;
當電源驅動直流電機轉動時,指針克服彈簧的拉力轉動直到碰觸到擋板,由于指針與VCC相連接,擋板與GND相連接,當指針碰到擋板時,會產生瞬時短接現象,同時,直流電機的驅動電源電壓也會瞬時拉低,指針在彈簧的拉力作用下退回,從而指針離開擋板時,直流電機的驅動電源電壓恢復正常,此時再驅動直流電機轉動,實現VCC和GND反復瞬時短接的過程,在VCC和GND反復瞬時短接的過程中,產生隨機的干擾波形。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京中電華大電子設計有限責任公司,未經北京中電華大電子設計有限責任公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110255606.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種目標模板的更新方法
- 下一篇:順逆流射流復式冷卻塔





