[發(fā)明專利]基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110255366.X
• 申請日: 2011-08-31
• 公開（公告）號: CN102435668A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 廖昌榮;韓亮;汪濱波
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶大學(xué)
• 主分類號: G01N27/83
• 分類號: G01N27/83
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11129
• 代理人: 謝殿武

1.基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：包括

差分陣列式漏磁探頭，包括由法向分量檢測霍爾傳感器組和切向分量檢測霍爾傳感器組，法向分量檢測霍爾傳感器組和切向分量檢測霍爾傳感器組分別用于檢測漏磁場的法向分量電壓信號和切向分量電壓信號；

信號調(diào)理電路，用以對差分陣列式漏磁探頭檢測到的電壓信號進(jìn)行調(diào)理后輸出到數(shù)據(jù)采集與處理單元；

數(shù)據(jù)采集與處理單元，通過對信號調(diào)理電路輸出的電壓信號進(jìn)行分析，判斷鐵磁構(gòu)件表面是否存在缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：所述差分陣列式漏磁探頭還包括電路板，電路板上交錯(cuò)設(shè)置多列法向分量檢測霍爾傳感器組和切向分量檢測霍爾傳感器組。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：每一個(gè)法向分量檢測霍爾傳感器組包括兩個(gè)對稱的分別安裝在電路板上、下表面的霍爾傳感器。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：每一個(gè)切向分量檢測霍爾傳感器組包括兩個(gè)對稱并列設(shè)置于電路板上表面的霍爾傳感器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：所述基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器還包括位移檢測單元，所述位移檢測單元用以檢測差分陣列式漏磁探頭的位移信號，經(jīng)信號調(diào)理電路處理后，輸入數(shù)據(jù)采集與處理單元，數(shù)據(jù)采集與處理單元將調(diào)理后的位移信號與電壓信號進(jìn)行關(guān)聯(lián)，以判斷各組電壓信號的采集位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：所述信號調(diào)理電路包括

濾波器，用以濾除電壓信號中的高頻噪聲；

差分運(yùn)算放大器，用以對法向分量檢測霍爾傳感器組和切向分量檢測霍爾傳感器組輸出的兩路電壓信號做減運(yùn)算，獲得差模信號，并對差模信號進(jìn)行放大后輸出到數(shù)據(jù)采集與處理單元。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：在差分陣列式漏磁探頭的電路板兩端分別對稱的設(shè)置有大小及磁性相同、極性朝向相反的永磁體。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于漏磁場雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測器，其特征在于：還包括報(bào)警單元，根據(jù)數(shù)據(jù)采集與處理單元的判斷結(jié)果，當(dāng)鐵磁構(gòu)件表面存在缺陷時(shí)進(jìn)行報(bào)警。