[發明專利]分析裝置及分析方法有效
| 申請號: | 201110251636.X | 申請日: | 2011-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN102435659A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
| 發明(設計)人: | 杉山幸司;松本大輔;白木裕章;米原聰 | 申請(專利權)人: | 愛科來株式會社 |
| 主分類號: | G01N27/447 | 分類號: | G01N27/447 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 高培培;車文 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分析 裝置 方法 | ||
1.一種分析裝置,其特征在于,具備:
采取部,從檢體用容器采取檢體,并將采取的該檢體移送至將該檢體加工成試樣的試樣槽;
兩個以上的流入部,使所述試樣流入該流入部;
與所述提取采取部隔離的分注部,使所述試樣從所述試樣槽注入所述流入部;
處理部,對流入所述流入部的所述試樣實施處理;
檢測部,檢測所述流入部的所述試樣所包含的特定成分。
2.如權利要求1所述的分析裝置,其特征在于,具備:
第一清洗部,清洗所述采取部及所述試樣槽;
第二清洗部,清洗所述分注部及所述流入部。
3.如權利要求2所述的分析裝置,其特征在于,
所述第一清洗部在與所述分注部將所述試樣注入所述流入部的時間、利用所述處理部對所述試樣實施處理的時間及利用所述檢測部檢測所述試樣所包含的特定成分的時間的至少一部分時間重復的時間內清洗所述采取部及所述試樣槽。
4.如權利要求2所述的分析裝置,其特征在于,
所述第二清洗部在與所述采取部將所述檢體移送至所述試樣槽的時間及在所述試樣槽將所述檢體加工成試樣的時間的至少一部分時間重復的時間內清洗所述分注部及所述流入部。
5.如權利要求1所述的分析裝置,其特征在于,
所述檢體用容器密封成使所述檢體不泄漏,所述采取部包含采取管嘴,該采取管嘴貫通該檢體用容器的一部分而采取所述檢體。
6.如權利要求5所述的分析裝置,其特征在于,
所述檢體用容器為真空采血管,所述采取管嘴貫通該真空采血管的密封部而采取所述檢體。
7.一種分析方法,是對試樣所包含的特定成分進行分析的分析裝置進行的分析方法,其特征在于,包括:
采取步驟,利用采取部從檢體用容器采取檢體;
加工步驟,將在所述采取步驟采取的檢體移送至試樣槽,并在該試樣槽之中處理該檢體而加工成所述試樣;
注入步驟,利用與所述采取部隔離的分注部,將所述試樣從所述試樣槽注入兩個以上的流入部;
處理步驟,對在所述注入步驟注入所述流入部的所述試樣實施處理;
檢測步驟,檢測在所述處理步驟實施處理后的所述試樣所包含的特定成分。
8.如權利要求7所述的分析方法,其特征在于,包括:
第一清洗步驟,對所述采取部及所述試樣槽進行清洗;
第二清洗步驟,對所述分注部及所述流入部進行清洗。
9.如權利要求8所述的分析方法,其特征在于,
進行所述第一清洗步驟的時間和進行所述注入步驟、所述處理步驟及所述檢測步驟的時間的至少一部分時間重合。
10.如權利要求8所述的分析方法,其特征在于,
進行所述第二清洗步驟的時間和進行所述采取步驟及所述加工步驟的時間的至少一部分時間重合。
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