[發(fā)明專利]發(fā)光器件制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110251381.7 | 申請日: | 2008-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN102330151A | 公開(公告)日: | 2012-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 藤原伸介;吉田浩章 | 申請(專利權(quán))人: | 住友電氣工業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | C30B29/38 | 分類號: | C30B29/38;H01L33/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 陳海濤;樊衛(wèi)民 |
| 地址: | 日本大阪*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光 器件 制造 方法 | ||
1.一種發(fā)光器件制造方法,其特征在于,在III族氮化物晶體襯底上形成至少單層的III族氮化物層,所述III族氮化物晶體襯底具有表面積不小于10cm2的主面,其中,在主面的除了從其外周到距離該外周5mm范圍內(nèi)的外周邊緣區(qū)域之外的主要區(qū)域中,總位錯密度是1×104cm-2至3×106cm-2,并且螺旋位錯密度對所述總位錯密度的比率是0.5以上。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光器件制造方法,其中所述螺旋位錯密度對所述總位錯密度的比率是0.9以上。
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