[發(fā)明專利]四極型質量分析裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110250005.6
• 申請日: 2008-05-26
• 公開（公告）號: CN102324377A
• 公開（公告）日: 2012-01-18
• 發(fā)明（設計）人: 向畑和男;中野茂暢;藤本穰
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種四極型質量分析裝置，具備四極質量過濾器和檢測器，上述四極質量過濾器選擇性地使具有特定質量的離子通過，上述檢測器對通過了該四極質量過濾器的離子進行檢測，該四極型質量分析裝置執(zhí)行掃描測量或者執(zhí)行使依次設定多個質量的周期重復的測量，在該掃描測量中使在規(guī)定的質量范圍的整個范圍內掃描要通過上述四極質量過濾器的離子的質量的周期重復，該四極型質量分析裝置的特征在于，還具備：

a)四極驅動單元，其對構成上述四極質量過濾器的各電極施加規(guī)定的電壓；以及

b)控制單元，在進行掃描測量或者進行使依次設定多個質量的周期重復的測量時，該控制單元在控制上述四極驅動單元以與質量相應地掃描或者改變對構成上述四極質量過濾器的各電極施加的施加電壓的情況下，根據(jù)周期的開始質量與結束質量之間的質量差來改變從一個周期的結束起到下一周期的開始為止的等待時間。

2.根據(jù)權利要求1所述的四極型質量分析裝置，其特征在于，

周期的開始質量與結束質量之間的質量差越小，上述控制單元使上述等待時間越短。

3.根據(jù)權利要求1所述的四極型質量分析裝置，其特征在于，在進行掃描測量時，該控制單元設定針對所指定的質量范圍的位于該范圍之上和之下的至少一方的掃描余量，控制上述四極驅動單元以改變對構成上述四極質量過濾器的各電極施加的施加電壓來對增加了與該掃描余量相應的量的質量范圍進行掃描，并且該控制單元根據(jù)掃描速度改變上述掃描余量的質量寬度。

4.根據(jù)權利要求3所述的四極型質量分析裝置，其特征在于，

掃描速度越小，上述控制單元使上述掃描余量的質量寬度越小。

5.根據(jù)權利要求3或4所述的四極型質量分析裝置，其特征在于，

上述控制單元還根據(jù)掃描開始質量改變上述掃描余量的質量寬度。

6.根據(jù)權利要求5所述的四極型質量分析裝置，其特征在于，

上述控制單元還根據(jù)被導入到上述四極質量過濾器的離子的加速電壓來改變上述掃描余量的質量寬度。