[發明專利]集成電路中的密鑰提取有效
| 申請號: | 201110248641.5 | 申請日: | 2011-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN102387013A | 公開(公告)日: | 2012-03-21 |
| 發明(設計)人: | 法布萊斯·馬里內特 | 申請(專利權)人: | 意法半導體(魯塞)公司 |
| 主分類號: | H04L9/06 | 分類號: | H04L9/06 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 王茂華;陳姍姍 |
| 地址: | 法國*** | 國省代碼: | 法國;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成電路 中的 密鑰 提取 | ||
1.一種在易失性存儲器(13)接通電源后使用該存儲器的單元的狀態,從物理不可復制功能件中提取密鑰的方法,其中:
根據非易失性存儲器中存儲的地址來讀取所述單元;
糾錯碼校正(43)讀取的狀態;以及
在錯誤已經被校正的情況下,在非易失性存儲器中,由提供非錯誤狀態的另一個單元的地址取代提供誤差狀態的單元的地址。
2.如權利要求1所述的方法,其中從所述易失性存儲器中提取的狀態被送至掩碼(22),以提供密鑰(K)。
3.如權利要求1所述的方法,其中基于對存儲器單元提供的狀態的連續測試,初始確定所述地址,以選擇穩定的單元。
4.如權利要求1所述的方法,其中從測試階段后形成的一組(41)單元中選擇提供所述狀態的單元,其中在連續的接通電源操作后執行從存儲器中連續讀取,所述組包括在這些讀取的操作中已經提供了相同狀態的單元。
5.如權利要求4所述的方法,其中所述組的單元的地址被存儲在非易失性存儲器(12)中。
6.如權利要求4所述的方法,其中所述組排除了存儲器層外圍的比特。
7.一種集成電路,包括能夠實現如權利要求1所述的方法的裝置。
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