[發明專利]非易失性存儲器件、其操作方法以及包括其的存儲系統有效
| 申請號: | 201110248599.7 | 申請日: | 2011-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN102385919A | 公開(公告)日: | 2012-03-21 |
| 發明(設計)人: | 尹治元;蔡東赫;樸宰佑;南尚完 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11C16/02 | 分類號: | G11C16/02;G11C16/06;G11C16/16 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邵亞麗 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 非易失性存儲器 操作方法 以及 包括 存儲系統 | ||
1.一種操作非易失性存儲器件的方法,所述方法包括:
對與多個串選擇線(SSL)相關聯的存儲單元執行擦除操作,所述與多個SSL相關聯的存儲單元構成存儲塊;以及
在驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作之后,驗證對與第二SSL相關聯的第二存儲單元的擦除操作。
2.如權利要求1所述的方法,其中,驗證對第一存儲單元和第二存儲單元的擦除操作包括:從各個存儲單元識別擦除通過或擦除失敗。
3.如權利要求1所述的方法,還包括,在擦除操作之前重置SSL計數和擦除計數。
4.如權利要求3所述的方法,還包括:在驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作通過時,在驗證對與第二SSL相關聯的第二存儲單元的擦除操作之前,對SSL計數向上計數。
5.如權利要求3所述的方法,還包括:在驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作失敗時,對擦除計數向上計數,并調整用于擦除存儲塊的擦除電壓。
6.如權利要求5所述的方法,還包括:當擦除計數達到預設值時執行錯誤報告。
7.如權利要求1所述的方法,其中,非易失性存儲器件的存儲單元在與存儲單元布置于其上的襯底的長軸垂直的方向上堆疊。
8.如權利要求1所述的方法,還包括,在擦除操作之前重置SSL鎖存器和擦除計數。
9.如權利要求8所述的方法,還包括:當驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作失敗時,將第一SSL的地址存儲到SSL鎖存器中。
10.如權利要求9所述的方法,還包括:在完成驗證對與所述多個SSL相關聯的存儲單元的擦除操作之后,當SSL鎖存器存儲第一SSL的地址時,向上計數所述擦除計數,并調整用于擦除存儲塊的擦除電壓。
11.如權利要求10所述的方法,還包括:驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作。
12.如權利要求11所述的方法,還包括:當驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作通過時,從SSL鎖存器中刪除第一SSL的地址。
13.如權利要求1所述的方法,還包括,在擦除操作之前設置SSL鎖存器并重置擦除計數。
14.如權利要求13所述的方法,還包括:當驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作通過時,從SSL鎖存器中刪除第一SSL的地址。
15.如權利要求14所述的方法,還包括:在完成驗證對與所述多個SSL相關聯的存儲單元的擦除操作之后,當SSL鎖存器存儲保持在SSL鎖存器中的第二SSL的地址時,向上計數所述擦除計數,并調整用于擦除存儲塊的擦除電壓。
16.一種非易失性存儲器件,包括:
存儲單元陣列,包括與多個串選擇線(SSL)相關聯的存儲單元;
電壓生成單元,被配置為生成對與SSL相關聯的存儲單元執行擦除操作的擦除電壓,所述與多個SSL相關聯的存儲單元構成存儲塊;以及
控制邏輯,被配置為在驗證對與第一SSL相關聯的第一存儲單元的擦除操作之后,驗證對與第二SSL相關聯的第二存儲單元的擦除操作。
17.如權利要求16所述的非易失性存儲器件,還包括:地址譯碼器,其通過SSL、字線以及至少一個地選擇線GSL連接到所述存儲單元陣列。
18.如權利要求17所述的非易失性存儲器件,還包括讀/寫電路,其通過位線連接到所述存儲單元陣列。
19.如權利要求18所述的非易失性存儲器件,還包括:通過/失敗檢查單元,用于確定對存儲單元的擦除操作的驗證是失敗還是通過。
20.如權利要求19所述的非易失性存儲器件,其中,所述控制邏輯包括擦除控制單元、SSL計數器和擦除計數器,所述擦除控制單元從所述通過/失敗檢查單元接收通過/失敗數據。
21.如權利要求19所述的非易失性存儲器件,其中,所述控制邏輯包括擦除控制單元、SSL地址鎖存器和擦除計數器,所述擦除控制單元從所述通過/失敗檢查單元接收通過/失敗數據。
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