[發明專利]光學式觸控裝置及其檢測觸控點坐標的方法

有效

• 申請號: 201110247498.8
• 申請日: 2011-08-26
• 公開（公告）號: CN102929438A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 陳裕彥;陳士文;呂幗閑
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

技術領域

本發明是關于一種光學式觸控裝置及其檢測觸控點坐標的方法，特別是一種可識別出真實觸控點及假接觸點的光學式觸控裝置及其檢測觸控點坐標的方法。

背景技術

隨著科技的進步，觸控面板已經被廣泛應用于日常生活中，使得使用者可以更直覺地操控電子產品。在先前技術中，觸控面板通常是電阻式或是電容式的架構。但電阻式或是電容式的觸控面板僅適用于小尺寸的觸控面板，若要用于大尺寸的觸控面板時，就會造成制造成本的大幅增加。

因此在先前技術中已經發明一種利用光學式的坐標輸入裝置，以解決利用電阻式或是電容式的大尺寸觸控面板時成本過高的問題。請先參考圖1A是先前技術的光學式觸控裝置具有單一接觸點的示意圖。

圖1A的光學式觸控裝置90包括檢測區域91、第一擷取模塊921、第二擷取模塊922與處理模塊93。檢測區域91用以供物體94接觸。若檢測區域91有物體94時，第一擷取模塊921與第二擷取模塊922分別擷取物體94的圖像，再將擷取到的圖像傳輸至處理模塊93進行計算。例如假設檢測區域91具有一寬度W及一高度H，而由第一擷取模塊921所擷取的物體94的圖像可以計算出第一角度θ1，第二擷取模塊922所擷取的物體94的圖像可以計算出第二角度θ2。接著可利用三角函數計算出物體94的水平軸X上的坐標點：

X=W*tanθ2tanθ1+tanθ2]]>

以及物體94的垂直軸Y上的坐標點：

Y＝X*tanθ1

因此處理模塊93可以根據此時第一擷取模塊921與第二擷取模塊922擷取的圖像計算出物體94的坐標。

但上述的方式僅能適用于單一物體94接觸到檢測區域91。接著請參考圖1B是先前技術的光學式觸控裝置具有多個接觸點的示意圖。

若是檢測區域91上具有兩個物體94時，第一擷取模塊921與第二擷取模塊922就會分別擷取出兩個物體94的圖像。處理模塊93會根據擷取出的圖像計算出四個接觸點，即如圖1B中的兩個真實接觸點951與兩個假接觸點(Ghost?Point)952。若處理模塊93無法識別出真實接觸點951與假接觸點952的正確位置，就會造成光學式觸控裝置90在操作時的混亂。或是將光學式觸控裝置90的功能限定在僅能利用單一的物體94進行控制，如此一來就會限制光學式觸控裝置90的功能。

因此，有必要發明一種可識別出假接觸點的光學式觸控裝置及其檢測觸控點坐標的方法，以解決先前技術的缺失。

發明內容

本發明的主要目的是在于提供一種光學式觸控裝置，其具有可識別出真實觸控點及假接觸點的效果。

本發明的另一主要目的是在于提供一種可識別出真實觸控點及假接觸點的檢測觸控點坐標的方法。

為達成上述的目的，本發明光學式觸控裝置包括檢測區域、第一擷取模塊、第二擷取模塊及處理模塊。檢測區域用以供第一物體及第二物體進行接觸。第一擷取模塊對檢測區域擷取第一擷取圖像，以擷取得第一物體圖像及第二物體圖像。第二擷取模塊對檢測區域擷取第二擷取圖像，以擷取得第三物體圖像及第四物體圖像。處理模塊與該第一擷取模塊及該第二擷取模塊電性連接，該處理模塊根據第一擷取圖像及第二擷取圖像計算出多個接觸點的坐標，并根據第一物體圖像、第二物體圖像、第三物體圖像及第四物體圖像之間的關系以判斷出多個接觸點為真實接觸點或假接觸點。

本發明的檢測觸控點坐標的方法是用于光學式觸控裝置。光學式觸控裝置具有檢測區域，用以供第一物體及第二物體進行接觸。該方法包括以下步驟：通過第一擷取模塊以對檢測區域擷取第一擷取圖像，以擷取得第一物體圖像及第二物體圖像；通過第二擷取模塊以對檢測區域擷取第二擷取圖像，以擷取得第三物體圖像及第四物體圖像；根據第一擷取圖像及第二擷取圖像計算出多個接觸點的坐標；以及根據第一物體圖像、第二物體圖像、第三物體圖像及第四物體圖像之間的關系以判斷出多個接觸點為真實接觸點或假接觸點。

附圖說明

圖1A是先前技術的光學式觸控裝置具有單一接觸點的示意圖。